厚度测量装置是用于测量被测物体厚度的装置。
厚度测量仪有两种类型：接触式，通过接触被测物体来测量厚度；非接触式，不接触被测物体来测量厚度。
厚度测量仪器是测量被测物体厚度的装置，因此用于测量各种事物的厚度。通过接触物体来测量厚度的典型接触式设备是卡尺和超声波厚度测量设备。卡尺用于测量管道的壁厚，超声波测厚仪用于检查不能夹住的东西，例如储罐的腐蚀检查。
另一方面，在不接触被测量物体的情况下测量厚度的非接触类型包括红外线类型和辐射类型。红外法用于测量塑料薄膜的厚度，辐射法用于测量冷轧金属板的厚度。
厚度测量仪有两种类型：接触式（可以快速测量）和非接触式（通过照射光线即可非破坏性测量）。接触式厚度测量装置是通过将装置直接施加到被测物体上来测量厚度的装置，并计算出测量装置的基准面到被测物体的距离（相对值测量）。另一方面，非接触式厚度测量仪是在不接触被测物体的情况下测量厚度，并通过接近被测物体的背面来计算差值（绝对值测量）的系统。这
厚度测量仪有两种类型：接触式和非接触式。
接触式测厚仪具有价格便宜、方便、易于目视检查等优点。但由于是接触式，必须注意避免被测物体损坏或变形而产生误差。我们将介绍卡尺和超声波测厚仪，它们是典型的接触式测厚仪。
游标
卡尺 可以测量长度、外径、内径、深度、台阶高度的测量仪器，具有称为主尺和游标尺的刻度。有模拟式、表盘式和数字式，其中数字式由于易于检查数值而被广泛使用。操作简单，只需将钳口滑开，慢慢插入待测物体，即可检查数值。
超声波测厚仪
超声波测厚仪利用超声波照射被测物体，根据超声波的传播时间计算出被测物体的厚度。超声波从探头（探头或换能器）发射并与待测物体的表面接触。
然后通过测量从探头发射的超声波在与物体接触表面相对的表面上反射并返回到探头的传播时间来计算厚度。使用以下公式计算厚度。
厚度d=1/2×被测物体的声速c×传播时间t
此时，由于传播时间t为往返时间，因此乘以1/2即可计算出单程时间，即被测物体的厚度。
非接触式厚度测量装置是一种大型装置，但其优点是可以在不损坏被测物体的情况下进行测量。非接触式测厚仪有红外式、辐射式、激光位移传感器式等。
红外线式
红外线式测厚仪是利用红外线透过某些材料的特性，以绝对值测量厚度的测量装置。当红外光照射到被测物体上时，会从红外照射面和相反的背面反射。探头接收这些反射光，并根据反射光的时间差（干涉差）计算厚度。
辐射式
辐射式测厚仪通过测量被测物体吸收的辐射量来计算厚度。辐射测厚仪被用在许多产品中，因为这种吸收不受被测物体色调的影响。
辐射的类型包括 α 射线、β 射线、伽马射线和 X 射线，但原理都是相同的。将放射线照射到待测物体上，测量物体的吸收（衰减）量并转换为厚度。选择适合待测物体的辐射类型。下面列出了适合每种辐射源的材料。
α射线…聚合物薄膜
β射线…金属薄膜、橡胶、塑料等
γ射线/X射线…金属板等
激光位移传感器型
激光位移传感器型厚度测量仪使用一个或两个激光位移传感器来计算厚度。使用一台激光位移传感器时，根据物体正面和背面反射光的差异计算厚度。当使用两个激光位移传感器时，将待测物体夹在中间，根据透射光的差异计算厚度。
当使用两个激光位移传感器时，测量夹在中间的激光位移传感器的上、下参考面到工件表面的距离，并从参考面之间的距离中减去该距离，即可确定工件的厚度。计算出来的。
厚度d=基准面之间的距离d0-（基准面上方到被测物体表面的距离d1+基准面下方到被测物体表面的距离d2）
超声波测厚仪有零点/第一底回波法（脉冲回波法）、多重回波法（回波/回波法）、表面回波/第一底回波法（界面回波法）。每种方法都有不同的特点，因此选择适合测量对象的方法很重要。常用的方法是脉冲回波法（零点/第一底回波法），可以测量表面状况较差的物体、较厚的物体、弯曲的零件等。
由于超声波测厚仪使用超声波，因此无法测量含有超声波无法透过的气泡的材料，例如聚苯乙烯泡沫塑料，或由于衰减而无法接收超声波的橡胶。
另外，空气层具有声阻，阻碍超声波在探头和待测物体之间的传播。为此，需要在探头和被测物体之间涂抹一种称为接触催化剂（耦合剂）的特殊液体，以尽可能消除空气的声阻。
