FIB-SEM（聚焦离子束扫描电子显微镜）是一种高分辨率三维成像和样品处理技术。
FIB 代表聚焦离子束。使用高能离子束刮擦样品表面，进行详细处理和观察。离子束可以以非常小的光斑尺寸聚焦在样品上，从而允许亚微米或纳米级的处理和观察。
SEM 代表扫描电子显微镜。采用高能电子束扫描样品表面，以高分辨率观察其表面形状和结构。 SEM 能够生成详细的三维图像，与 FIB 结合时，可以描绘样品的内部结构。
FIB-SEM 因其高分辨率和三维成像能力而被应用于各种科学和工程领域。以下是如何使用 FIB-SEM 的示例。
FIB-SEM 对于研究纳米级材料非常有用。它用于分析金属纳米粒子的形状和分布以及纳米复合材料内异种材料的排列。这使得新材料的设计和纳米技术的应用成为可能。
它还用于研究半导体器件和磁性材料的内部结构，以及研究器件性能。它在材料工程和电子器件制造领域有着重要的应用。
它用于研究生物样品的详细结构。可以高分辨率观察细胞的内部结构和细胞核的结构。可用于细胞生物学、癌症研究等。
它还用于可视化活体组织的三维结构并了解组织微观结构和病理变化。它在生物学和医学诊断相关领域具有重要的应用。
FIB-SEM 用于分析地球岩石和矿物的微观结构。可以详细研究岩石和矿物的晶体结构和晶体生长历史。这对于理解岩石形成和变化的机制以及破译地球的历史很有用。
FIB 的主要元件是高能离子束。通常使用镓离子。离子束可以聚焦在特定区域，从而可以将能量以非常小的光斑尺寸集中在样品上。
这种高能光束用于扫描样品表面并以高分辨率观察其表面形状和结构。这使得可以可视化样品的详细表面拓扑。
由于其高分辨率，广泛应用于包括材料工程在内的各个领域。它是纳米级和微米级研究和分析的重要工具之一。
选择 FIB-SEM 时应考虑几个因素。以下是 FIB-SEM 选择因素的示例。
分辨率是观察样品上微小结构和细节的程度的指标。分辨率越高，可以观察到的结构越精细。分辨率与电子束的尺寸有关，较小的电子束尺寸可以进行高分辨率的观察。
离子源是 FIB 的核心部分，用于选择所使用的离子类型。镓离子源是常见的，但也可以使用非镓离子源。镓适用于软材料，但镓以外的离子源通常用于硬材料。
FIB-SEM 中的加速电压是对电子束和离子束施加能量的量度。加速电压越高，离子束或电子束加速得越快，使其能够更深地穿透样品。然而，将电压提高得太高会增加对样品的损坏。
