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Bruker布鲁克X射线荧光光谱仪说明书

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2024/12/15 21:29:39

Bruker X射线荧光光谱仪:精准分析,开启材料科学新视野

布鲁克(Bruker)X射线荧光光谱仪结合高精度技术与灵敏度,为材料科学、工业质量控制、科研实验等领域提供了强大的元素分析工具。这款设备集成多项先进功能,以高效、可靠的性能满足多样化应用需求,是现代实验室和工业应用的重要设备之一。


设备亮点

  1. 高灵敏度与精准度

    • 采用 HighSense 光管与分光晶体 技术,覆盖从铍(Be)到镅(Am)的全元素分析范围。

    • 检出限低至0.2 ppm,可应对极微量样品分析,确保数据精准可靠。

  2. 灵活的样品适配性

    • 支持固体、液体、粉末和小颗粒样品的直接分析,无需复杂的样品制备。

    • 多种面罩与准直器选择,光斑尺寸最小达300 µm,适用于微区分析和面扫描。

  3. 快速高效的操作体验

    • 自动化样品处理系统,结合 EasyLoad 设计,减少操作时间,提高样品周转率。

    • 用户界面采用直观的 TouchControl 系统,操作简单,即使非专业人员也能轻松使用。

  4. 低维护与长寿命设计

    • SampleCare 技术 防止粉尘和样品污染设备内部组件,延长设备使用寿命。

    • 氦气节能模式减少运行成本,保持长期高效运作。


关键技术特点

  1. HighSense 技术提升分析性能

    • 分光晶体优化:18种分光晶体适配不同元素,提高检测强度和精密度。

    • 动态计数技术:DynaMatch 技术实现计数率高达13 Mcps,为高通量分析提供保障。

    • 光管增强:28 µm 铍窗设计,轻元素检测强度提升35%。

  2. XRF2 微区分析功能

    • 面扫描工具结合高灵敏度光路,支持轻重元素的高分辨率分析。

    • 小光斑(300 µm)和高步长精度(100 µm)让微区分布研究更加精确。

  3. 高效样品进样与分析

    • 自动识别样品类型(固体或液体),避免操作失误。

    • 进样托盘配置灵活,支持单样品或批量样品测量,适合高通量需求。

  4. 可靠的数据管理能力

    • 数据自动记录与存储,确保分析结果的可追溯性。

    • 灵活的报告输出功能,支持多种格式的数据导出与打印。


适用领域与优势

  1. 工业质量控制

    • 支持水泥、矿物、金属合金等材料的主要成分和微量元素检测。

    • 满足ISO、ASTM等多种国际标准要求。

  2. 科研与学术研究

    • 用于材料科学、地质学、古生物学的深度分析。

    • 微区扫描功能特别适合缺陷分析和元素分布研究。

  3. 环保与能源行业

    • 聚合物中重金属与微量元素检测。

    • 在石油化工领域,提供润滑油、水和聚合物的精确分析。


技术规格


设备维护与操作建议

  1. 环境要求

    • 放置在无尘环境中,确保设备运行稳定。

    • 避免湿度过高,以保护光管和分光晶体。

  2. 定期维护

    • 清洁粉尘收集器和真空封挡,避免污染光谱室。

    • 检查氦气模式与耗材状态,确保设备长期高效运行。

  3. 安全操作

    • 样品进样时遵循操作指引,避免液体泄漏或松散粉末污染设备。

    • 数据存储与分析权限管理需规范操作,保护实验数据安全。


总结

布鲁克 X射线荧光光谱仪以其优异的检测性能、灵活的样品适配性和低维护设计,成为工业与科学分析领域的可靠选择。设备通过创新技术与高效操作结合,不仅提升了实验效率,还显著优化了分析结果的精度和可靠性。它是一款能够应对未来需求、支持广泛应用的多功能仪器。


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