非接触式方块电阻测试仪实现替代四探针方阻测试仪传统测量方案，方块电阻测试仪采用电涡流技术，通过设备的涡流传感器组，感应弱电流到导电薄膜和材料。方块电阻测试仪实现更高精度实时测量板材电阻和层厚，非接触式单点方阻测试仪既不需要设置测试结构，也不受表面粗糙度或非导电封装或钝化层的影响,不再进行任何形式的样品接触或多余备样，同一样品反复调整重复测量，非接触式薄膜方阻测量仪可以非接触式实时测量，对导电薄膜和金属方块电阻精确测量，表征已被隐藏和封装的导电层，并把测量数据保存和导出。有利于在研发和测试实验室各种薄膜系统的质量保证。