X200M高低温手动屏蔽探针台拥有稳定可靠的测试平台，保证测试中的扎针质量。优异的光学系统结合分辨率＜2μm的针座系统，确保扎针的稳定性。直流应用中，X200M高品质的电缆和三轴信号通路，可使DUT特性分析达到fA水平；射频应用中，通过缩短扩频模块与探针之间连接器的距离，可高效且更好地实现THz内器件高品质参数的提取。优异的三轴低漏电载物台选件，提高器件测试的信心。载物台的单手快速移动及升降、一体化真空开关等优化设计使操作流程更加简洁与人性化，无论是初学者还是经验者，使用起来都非常方便、易懂。

专门为升级和扩展所设计的各种选项， 可轻松实现如负载牵引系统、太赫兹系统、 辐照系统、1/f噪声等系统的搭载，X200M 系统也可根据您的未来项目需求重新配置。

高低温手动屏蔽探针台产品特点

机台可轻松实现 - 60~200/300°C 高低温测试。

提供芯片级I-V / C-V低噪声全 金属屏蔽测试系统方案。

可轻松实现太赫兹及扩频模块的 升级搭载。

多孔吸附式载物台设计，更好地 兼容薄晶圆固定。

优异的屏蔽系统可搭载高低温， 为芯片提供更加成熟稳定的老化 测试环境。

短轴式拉杆设计，将更加符合新 一代芯片系统测试的需求。

多种可选CHUCK类型，满足常 规及高压等特殊条件的测试。