随着新能源、航空航天、电子信息、生物医用等领域对高性能新材料的旺盛需求,中国新材料产业进入快速增长通道。作为新材料研发与产业化过程中不可或缺的一环,分析检测技术及设备的水平直接决定了材料的性能、可靠性与应用边界。
尽管国内新材料分析检测设备制造商在部分中低端领域实现了较快发展,但整体技术水平仍与国际先进水平存在差距,尤其是在高端原位分析、微量杂质检测、多维度结构表征等核心检测设备领域,国产化率依然偏低。随着国家“进口替代”政策的持续落地以及本土企业研发投入的不断加大,新材料分析检测设备的国产化进程正加速推进,行业迎来关键窗口期。
2026年7月21日 14:00,化工
仪器网特举办“第二届新材料分析检测技术”线上研讨会。本届研讨会将聚焦新材料分析检测技术与装备的前沿动态,围绕痕量分析、表面与界面表征、原位/动态检测、缺陷识别与失效分析等关键技术瓶颈展开深入探讨,并分享检测技术在锂电材料、高温合金、复合材料、半导体衬底材料等典型应用场景中的创新案例。会议旨在为从事新材料研发及检测技术研究的科研人员、企业工程师和实验室管理者提供思路启发与技术交流平台,助力我国新材料产业迈向高质量、高可靠、高精度的发展新阶段。
会议日程
具体以现场为准
讲师介绍(排名不分先后)
黄火林,大连理工大学教授/博导
国家重点专项首席科学家。担任辽宁省第三代半导体技术创新中心主任,发表重要学术论文100余篇、国际国内发明专利70余项,获得政府奖励和国家一级行业协会科技奖励6项。
王宁,中国科学院深圳先进技术研究院前副研究员
博士毕业于新加坡南洋理工大学,前中国科学院深圳先进技术研究院副研究员,纯纳半导体联合创始人,首席科学家。从事半导体材料开发工作。发表国内外期刊论文100多篇,引用2400多次,H-index 31,参与或主持多项国家及省部级项目,专著章节3部,参编团体标准1项,授权发明专利7件,深圳市孔雀C类海外高层次人才。
陈辰,珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司材料表征产品线技术支持
2006年毕业于北京理工大学,获材料科学与工程专业硕士学位。 从2005年开始一直专注于FT
IR、UV、FL 方面的工作,在期刊和单位内部发表多篇文章。
作者:杨