LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪

产品描述：
 LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有精准的测量技术和简单的操作方法，是*的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
特点概述：
◆ 大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
◆ 校准选项
◆ 出厂时已校准，立即可用
◆ 在未知涂层上校准*
◆ 零校准*
◆ 在无涂层的基体上一点和多点校准*
◆ 在有涂层的基体上校准*
◆ 校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中，也可以随时调出
◆ 可选择的显示模式，以*形式去完成测量任务*
◆ 输入和极限监视*
◆ 在Windows下有简单的存储读数档案管理*
◆ 可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
◆ 统计*
◆ 可统计评估999个读数
◆ zui小值、zui大值、测量个数、标准偏差和极限监视
◆ 局部厚度和平局膜层厚度（DIN EN ISO 2808）
◆ 在线统计，所有统计值概括
3种配置级别以更好的完成测量任务
      基本型 – 证明质量的基本特征
      高级型 - 附加统计评估
      专业型 - 统计评估和数据存储
如果针对新的测量要求，而需要仪器增加新的功能，可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码，“统计”和/或“统计& 数据存储”，便可完成；而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。
多样的探头
多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下，更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm也是可以的。根据需求，我们也可以订做特殊探头。