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涂布层四探针测试仪计算公式
ROOKO[瑞柯微]仪器经营--专注于粉体和材料测试与分析仪器的产销及服务；产品服务于科研、院校、实验室及企业研发部门；“质量为本、服务先行”之经营理念；致力于创新为客户提供解决方案；坚持差异化经营，求同存异；以创新，改变认知，提升品质为使命；采用新技术、新方法、提升客户价值为全员谋福祉为愿景；坚持修己、求进、创新为价值观；与广大用户共进步，共发展.目前经营如下系列产品：
1.粉体、颗粒测试仪器系列；2.材料电性能测试仪系列；3.流变仪和粘度计系列；
4.热分析仪器系列.
1.粉体、颗粒测试仪器系列：
粉末流动性测试仪,堆密度仪,粉体综合特性测试仪,粉体屈服强度测试仪.粉体流变仪,粉末电阻率测试仪,休止角测定仪,安息角测定仪,松装密度测定仪,振实密度仪,斯柯特容量计,霍尔流速计,表观密度测定仪,颗粒强度测定仪.
2.导体/半导体/绝缘材料电性能测试系列：
材料表面/体积电阻率测试仪、四探针方阻/电阻率测试仪、高温电阻率测试系统、电压降测试仪.3.流变仪和粘度计系列；4.热分析仪器系列.
详细信息
涂布层四探针测试仪计算公式
按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.
涂布层四探针测试仪计算公式
本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
规格型号 | FT-331 | FT-332 | FT-333 | FT-334 | FT-335 | FT-336 |
1.方块电阻范围 | 10-4～2×105Ω/□ | 10-4～2×103Ω/□ | 10-3～2×105Ω/□ | 10-3～2×103Ω/□ | 10-2～2×105Ω/□ | 10-2～2×103Ω/□ |
2.电阻率范围 | 10-5×106cm | 10-5×104-cm | 10-4～2×106Ω-cm | 10-4～2×104-cm | 10-3～2×106Ω-cm | 10-3～2×104-cm |
3.测试电流范围 | 0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA | 10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA | 0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA | 10μA，100μA，1mA，10mA， 100 mA | 0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA | 1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA |
4.电流精度 | ±0.1%读数 | ±0.2%读数 | ±0.2%读数 | ±0.3%读数 | ±0.3%读数 | ±0.3%读数 |
5.电阻精度 | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% |
6.显示读数 | 液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 | |||||
7.测试方式 | 普通单电测量 | |||||
8.工作电源 | 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W | |||||
9.整机不确定性误差 | ≤4%（标准样片结果） | |||||
10.选购功能 | 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台 | |||||
