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半导体四探针方阻测试仪
ROOKO[瑞柯微]仪器经营--专注于粉体和材料测试与分析仪器的产销及服务；产品服务于科研、院校、实验室及企业研发部门；“质量为本、服务先行”之经营理念；致力于创新为客户提供解决方案；坚持差异化经营，求同存异；以创新，改变认知，提升品质为使命；采用新技术、新方法、提升客户价值为全员谋福祉为愿景；坚持修己、求进、创新为价值观；与广大用户共进步，共发展.目前经营如下系列产品：
1.粉体、颗粒测试仪器系列；2.材料电性能测试仪系列；3.流变仪和粘度计系列；
4.热分析仪器系列.
1.粉体、颗粒测试仪器系列：
粉末流动性测试仪,堆密度仪,粉体综合特性测试仪,粉体屈服强度测试仪.粉体流变仪,粉末电阻率测试仪,休止角测定仪,安息角测定仪,松装密度测定仪,振实密度仪,斯柯特容量计,霍尔流速计,表观密度测定仪,颗粒强度测定仪.
2.导体/半导体/绝缘材料电性能测试系列：
材料表面/体积电阻率测试仪、四探针方阻/电阻率测试仪、高温电阻率测试系统、电压降测试仪.3.流变仪和粘度计系列；4.热分析仪器系列.
详细信息
FT-340系列双电测四探针电阻率/方阻测试仪
本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，
适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。
半导体四探针方阻测试仪
采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，
同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。
该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，
对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，
FT-340系列双电测四探针电阻率/方阻测试仪
它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、
合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、
电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，
EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，
抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等
半导体四探针方阻测试仪
规格型号 | FT-341 | FT-342 | FT-343 | FT-345 | FT-346 | FT-347 |
1.方块电阻范围 | 10-5～2×105Ω/□ | 10-4～2×103Ω/□ | 10-3～2×105Ω/□ | 10-3～2×103Ω/□ | 10-2～2×105Ω/□ | 10-2～2×103Ω/□ |
2.电阻率范围 | 10-6～2×106Ω-cm | 10-5～2×104-cm | 10-4～2×106Ω-cm | 10-4～2×104-cm | 10-3～2×106Ω-cm | 10-3～2×106Ω-cm |
3.测试电流范围 | 0.1μA,μA,0μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 0.1μA,μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA |
4.电流精度 | ±0.1%读数 | ±0.2%读数 | ±0.2%读数 | ±0.3%读数 | ±0.3%读数 | ±0.3%读数 |
5.电阻精度 | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% |
6.显示读数 | 大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 | |||||
7.测试方式 | 双电测量 | |||||
8.工作电源 | 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W | |||||
9.整机不确定性误差 | ≤3%（标准样片结果） | |||||
10.选购功能 | 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台 | |||||
11.测试探头 | 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针 | |||||
半导体四探针方阻测试仪
