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FT110A 日立荧光镀层厚度测量仪

型号
FT110A

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热分析、X射线荧光分析仪,膜厚仪等

       我司主要经营范围为:分析测量仪器及其零部件的研发、生产,计算机软件的开发、设计、制作,销售自产产品,系统集成的设计、调试、维护,提供相关的技术咨询与售后服务,精密仪器的维修;上述同类产品的批发、进出口、佣金代理(拍卖除外)(涉及行政许可证,凭许可证经营)。

详细信息

FT110A日立荧光镀层厚度测量仪规格参数:

型号名称:FT-110A

测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi)

检测器:比例计数管

X射线管:管电压:50kV    管电流:1mA

准直器:4种(Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm)

样品观察:CCD摄像头(可进行广域观察)

X-Ray Station:电脑、19英寸液晶显示器

膜厚测量软件:薄膜EP法、标准曲线法

测量功能:自动测量、中心搜索

定性功能:KL标记、比较表示

使用电源:220V/7.5A


FT110A日立荧光镀层厚度测量仪特长:

1.自动对焦功能 自动接近功能
   在样品台上放置各种高度的样品时,只要高低差在80mm范围内,即可在3秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性。

    ●自动对焦功能    简便的摄像头对焦

    ●自动接近功能    位置的对焦

            

 

2.通过新 薄膜FP法提高测量精度

   日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪实现微小光束的高灵敏度,通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外,针对检测器的特性开发了新的EP法,可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书,简单方便。

    ●新 薄膜EP法   

      减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化

      无标样测量方法可进行zui多5层的膜厚测量

    ●自动对焦功能和距离修正功能    

      凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量

    ●灵敏度提高

      镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2

    ●生成报告功能

      一键生成测量报告书

     

 

3.广域样品观察

FT110A对测量平台(250mm*200mm)上放置的样品拍摄一张静态画面后,可在获取的广域观察图像上狭域的观察位置。由此,可大幅减少多数测量点位置的选取时间,以及在图像上难以寻找的特定点位置的选定时间。

    ●广域图像观察    轻松定位

              

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