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菲希尔XDL210 x射线测厚仪
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详细信息
菲希尔XDL210 x射线测厚仪
菲希尔代理X射线镀层测厚仪简介：
德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL210/220/230/240特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240典型的应用领域有：
• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层，例如：装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 测量印刷线路板
• 分析电镀溶液
XDL230有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。
由于采用了FISCHER基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
