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FISCHERSCOPE XUL XYm菲希尔荧光镀层分析仪
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FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm菲希尔荧光镀层分析仪简介:
一一一 耐用且价格便宜的X射线荧光测量仪,用于无损涂层厚度测量和材料分析。
FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,它结构紧凑,小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯(17)到铀(92)。XUL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。本款仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有:
在小部件如螺钉、螺栓和螺帽上的测量
在连接器和电气元件上的测量
电镀液的溶液成分分析
菲希尔荧光镀层分析仪x-ray设计理念:
FISCHERSCOPE X-RAY XUL设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途,有以下两种不同版本型号,分别对应不同的样品平台:
XUL: 固定平面平台
XUL XYm: 手动X/Y平台
一 高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能,可以定位测量位置。
一 尽管仪器本身结构紧凑,但是由于XUL光谱仪配备了宽敞的测量室,从而可以测量更大体积的样品。
一 外罩底部留下了空隙,可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品,如大面积的印制线路板等。
一 通过强大而界面友好的WinFTM®软件,可以在电脑上便捷地完成整个测量过程,包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。
一 XUL型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器,型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法令要求
参数介绍:
样品台 | XUL | XUL XYm |
设计 | 固定样品平台 | 手动XY平台 |
X/Y方向zui大可移动范围 | - | 50 x 50 mm |
样品放置可用区域 | 250 x 280mm | |
样品zui大重量 | 2kg | |
样品zui高高度 | 240mm |
更多详细信息,请参考FISCHERSCOPE® X-RAY XUL参数或。