$item.Name

首页>物理特性分析仪器>测厚仪>镀层测厚仪

MAXXI 5 常州供应牛津仪器X射线镀层测厚仪

型号
MAXXI 5
江苏海东环保科技有限公司

高级会员8年 

生产厂家

该企业相似产品

牛津仪器X射线镀层测厚仪

在线询价

徐州供应牛津仪器X射线镀层测厚仪

在线询价

南通供应牛津仪器X射线镀层测厚仪

在线询价

镇江供应牛津仪器X射线镀层测厚仪

在线询价

无锡供应牛津仪器X射线镀层测厚仪

在线询价

淮安供应牛津仪器X射线镀层测厚仪

在线询价

南京供应牛津仪器X射线镀层测厚仪

在线询价

苏州供应牛津仪器X射线镀层测厚仪

在线询价
化学药水自动分析加药系统,化学镍自动分析检测加药系统,总酸、总碱自动分析加药系统,美国禾威Walchem水处理自动加药控制器,milum铜厚测厚仪,美国SCS离子污染测试仪,美国CalMetrics镀层标准片,牛津仪器镀层测厚仪/CMI系列,美国Kocour检测仪及标准片,日本易威奇计量泵

江苏海东环保科技有限公司代理世界各国名厂符合IPC标准的精密测试设备: 美国禾威Walchem水处理自动加药控制器及工业PH/ORP/导电率/铜离子/镍离子传感器日本易威奇IWAKI 计量泵、美国ECI CVS电镀添加剂分析仪瑞士万通 CVS电镀添加剂分析仪等

2010下半年自主研发生产了线(酸洗、电镀镍、酸性化学镍、碱性化学镍)线(硫酸、双氧水、PTH镀铜、VCP镀铜、化学铜)酸洗线、前处理线等自动分析加药系统。2016始,以瑞士万通为主导,共同针对铝氧化、阳极氧化线、磷化线、化金和化银线、和硫酸酸洗、盐酸酸洗线等自动分析加药系统项目进行开发。自今已有上百家客户在使用,数百套自动分析加药系统在全国各个加工厂,得到了客户的认可和好评。

奔蓝科技是一家专业从事电镀生产线、线路板生产线和半导体生产线精确分析检测设备研发、生产、销售、维护及企业信息管理系统开发的公司,总部位于改革开放前沿的深圳市。自公司成立以来,一直服务于半导体、PCB线路板厂、五金电镀加工厂、连接器、LCD、科研机构、高校、质量检测中心、微电子、光学和电子通讯设备等领域。

奔蓝科技始终坚持诚信经营、按章纳税的经营原则,凭借自身强大的技术后盾、优质的产品和良好的客户服务信誉,在各生产厂家取得了信任与合作关系,同时建立并完善了我们的销售网络和售后服务体系。

我们以先进的技术和经营理念,将创新协作作为长久发展的策略。以海纳百川,和谐共赢的精神,期待能与您携手并进,共创美好明天!欢迎各界朋友莅临指导、参观和业务洽谈。

我们的经营理念是:

1.我们以公平的价格提供最高质量的仪器。

2.为顾客提供优质的服务和品质优良的设备

3.顾客提出的建议和新想法,将被我们采纳,并作为我们未来的事务。

4.我们的目标和战略是与企业建立可持续的战略合作伙伴。


详细信息

MAXXI5   X射线镀层测厚仪

产地:英国   品牌:牛津仪器    型号:MAXXI5

仪器原理及测量方法介绍:

● 1.荧光X射线微小面积镀层厚度测量仪的特征,满足标准ISO 3497-2000GB T16921-2005

    属覆盖层 镀层厚度的测量 X射线光谱法

  • 可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
  • 可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
  • 薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外,适用于无铅焊锡的应用。 

● 2.测量原理   常州供应牛津仪器X射线镀层测厚仪

   物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。

● 3.镀层厚度的测量方法   常州供应牛津仪器X射线镀层测厚仪

    镀层厚度的测量可分为标准曲线法和FP(基本参数法)2种。标准曲线法是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量示知样品,以得到镀层厚度或组成比率。

FP法即是Fundamental Parameter Method的简称。即基本参数法。

1)标准曲线法:如下图所示,经X射线照射后,镀层和底材都会各自产生荧光X射线,我们必需对这2种荧光X射线能够辨别,方能进行镀层厚度的测量。也就说,镀层和底材所含有的元素必需是不*相同的,这是测量镀层厚度的先决条件。 

   镀层厚度测量时,可采用两种不同方法。

    一种是注重镀层中的元素所产生的荧光X射线强度,称为激发法。

   一种是注重底材中的元素所产生的荧光X射线强度,称为吸收法。这两种方法的应用必需根据镀层和底材的不同组合来区分使用。

   镀层厚度测量时,测量已知厚度的标准样品而得到其厚度及产生的荧光X射线强度之间的关系,并做出标准曲线。然后再测量未知样品的荧光X射线强度,得到镀层厚度。但是需注意的是,荧光X射线法是从得到的荧光X射线的强度来求得单位面积的元素附着量,再除以元素的密度来得出其厚度。所以,对于含有杂质或多孔质蒸镀层等与纯物质不同密度的样品,需要进行修正。

2FP - 基本参数方法

   采用FP法,只需要比标准曲线法更少的标准样品,就能简单迅速地得到测量的结果。如果样品均匀,所使用分析线的强度就可用样品的成分和基本参数的函数来表示。换句话说,从任意组成的样品所产生的分析线强度,都可以从这基本参数来计算出,所以我们称这种方法为基本参数法。

   FP法的zui大特征是可对块体样品进行成分分析到薄膜样品的成分与厚度同时进行分析与测量。MAXXI 5系列的仪器是对于块体样品可采用块体FP法,对于薄膜样品可采用薄膜FP分析法。

奔蓝科技昆山分公司   吴生:151九零一九4078

 

 

相关技术文章

同类产品推荐

相关分类导航

产品参数

企业未开通此功能
详询客服 : 0571-87858618
提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :