更高分辨率、更高衬度、更快速度

蔡司是的能在实验室仪器中提供 50 nm 分辨率无损三维 X 射线成像解决方案的厂商。除吸收衬度和 Zernike 相衬技术外，蔡司 Xradia 810 Ultra 还运用了改装自同步加速器的*光学器件，用以为研究提供业界出众的分辨率和衬度。通过在传统成像工作流程中加入关键的无损分析步骤，从而让这款创新型仪器实现了研究领域的突破。

Xradia 810 Ultra 能够利用 5.4 keV 下的更高衬度对大量难于成像的材料进行高分辨率 X 射线成像。借助吸收衬度和相衬技术来优化大量材料的成像，如聚合物、氧化物、复合材料、燃料电池、地质样品及生物材料等。在*的同步加速器实验室内*引入纳米级 X 射线成像技术，蔡司 XRM 开创性解决方案始终让您走在科学研究的zui前列。

通过将纳米级 X 射线成像的速度提升一个数量级，拓展了 XRM 在科学和工业领域中的应用。对于中心显微实验室而言，更快的工作流程意味着有更多的用户能在更短的时间内综合利用仪器，从而利于扩大 XRM 的用户群。同样，您也可以快速地重复执行内部结构的四维和原位研究，使这些技术的应用面更广。在诸如数字岩石物理技术等有针对性的应用中，Xradia 810 Ultra 可用于评估油气钻探的可行性，在数小时内提供测量数据来表征关键性参数，如孔隙度。