Xradia 800 Ultra 的zui小分辨率低至50 nm，使微观结构和进程可视化，这些是传统实验室 X 射线技术不能实现的。在 X 射线能量为8 KeV下运行，的穿透力和衬度适合各种材料，使您可以观察自然状态下的结构和材料。

集成相位衬度技术的 Xradia 800 Ultra 运用 Zernike 方法在吸收衬度低时可增强晶界和材料交界处的可见度，使未染色的超结构和纳米结构可视化。

蔡司Xradia 800 Ultra 采用类似横切法的无损技术，提供可信赖的内部 3D 信息。大工作距离和空气样品环境使您可以轻松的进行原位研究。

• 无损三维 X 射线成像允许在直接微观结构观察下对同一样品进行重复成像
• 在原位设备中样品成像保持低至 50nm 的高分辨率
• 用于断层扫描重构的图像自动调整功能
• 视野可在 15 至 60 μm 的范围内进行切换
• 吸收衬度和 Zernike 相位衬度成像模式
• 在实验室中开发、准备、测试你计划的同步实验，让有限的同步辐射时间更加有效率
• 搭配 Scout-and-Scan 控制系统和基于工作流程的用户界面，尤其适合研究人员水平各不相同的中心实验室