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飞行时间二次离子质谱2-材料表征
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科睿设备有限公司(Cross-Tech Equipment Co.,Ltd )为多家国外高科技仪器厂家在中国地区的代理。科睿公司一贯秉承『诚信』、『品质』、『服务』、『创新』的企业文化，为广大中国用户提供仪器、设备，周到的技术、服务和*的整体解决方案。在科技日新月异、国力飞速发展的中国，纳米科学研究、薄膜材料(包括半导体)生长和表征、表面材料物性分析、生物药物开发、有机高分子合成等等领域，都需要与欧美发达国家*接轨的仪器设备平台来实现。科睿设备有限公司有幸成长在这个火热的年代，我们愿意化为一座桥梁，见证中国科技水平的提升，与中国科技共同飞速成长。
科睿设备有限公司(Cross-Tech Equipment Co.,Ltd)总部设在中国香港，在中国上海设立了分公司，在国内多个城市设立了办事处或维修站，旨在为客户提供*的产品和服务。2010年，科睿设备有限公司在上海设立备品仓库及维修中心，同时提供在大陆的各项技术服务和后期的维修保障服务，我们拥有专业的应用维修人员，并且都曾到国外厂家进行了专门的培训。上海配备了多种维修部件，能使我们的服务更加快捷和方便。我们承诺24小时电话响应，72小时内赶到现场维修。以利于更好、更快的为中国大陆服务！
因为信任,所以理解.我们理解用户的困难和需求。我们已经为国内众多科研院所和大学根据用户的要求配制和提供了上百套系统，主要用户包括：中科院物理所，中科院半导体所，中科院大连化学物理研究所，国家纳米中心，上海纳米中心，北京大学，清华大学，中国科技大学，南京大学，复旦大学，上海交通大学，华东理工大学，浙江大学，中山大学，西安交通大学，四川大学，中国工程物理研究院，香港大学，香港城市大学，香港中文大学，香港科技大学等。
详细信息
飞行时间二次离子质谱2-材料表征
仪器简介：
飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素，分子等结构信息。
飞行时间二次离子质谱2-材料表征
技术参数：
. 并行探测所有离子，包括有机和无机分子碎片。
. 无限的质量探测范围（实际测量中大于1000m/z 原子量单位）。
. *透过率下实现高的质量分辨率。
. 高的横向和纵向空间分辨率（横向小于100纳米，纵向小于1纳米）。
. 探测灵敏度可达ppm或ppb量级。
. 质量探测分辨率(M/ΔM) >1000
. 质量探测准确度 ≥20 milli 质量单位
. 反射性分析器
. 5 分钟样品腔真空度可从大气环境达到真空工作环境
主要特点：
. 超高的表面灵敏度(1x109 atoms/cm2)
· 操作简单(? day training)
· 1 分钟分析，样品处理流程<7分钟
· 导体和绝缘体表面均可测试
· 可得到元素和分子信息
· 从元素中分离出普通有机物
· 正电和负电的 二次离子质谱
· 同位素分析
· 分析面积 ~0.5 mm
· 溅射预清洗表面
· 提供材料数据库
专业科研型
MS-1000 简易型，专业用于表面分析
MS-1000 台式型，用于固体表面分子结构定性分析
MS-1000 是飞行时间二次离子质谱，属于静态模式的SIMS，对于样品表面的分子非常敏感
MS-1000 相比其它SIMS，比较便宜，性能价格比高，方便使用，15分钟可以得到样品表面信息。
MS-1000专业设计用于质量控制和错误诊断，生产时的指标监测，以及其它表面分析手段做不到的领域.
质谱分析仪和离子枪设计成一体，使得MS-1000 成为最小的静态二次离子质谱!
MS-1000应用领域包括:
分析涂层中的胶黏剂以及复合材料
半导体制备中的污染，药物生产的准备和环境监测
生物体兼容性测试
快速检测等离子体对样品表面的处理和改性
涂料中预处理的有机粘合剂分析
