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MarSurf M400 马尔简便易用的便携式粗糙度测量仪

型号
MarSurf M400
参数
产地类别:进口

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光学测量仪,三维表面测量仪、轮廓仪、激光共聚焦显微镜、非接触式三维形貌测量仪、白光干涉仪、全自动影像测量仪、工业CT、扫描电镜、尼康显微镜

上海曼戈斐光学技术有限公司(Megphy)是一家专业从事代理光学测量仪器的公司。代理品牌主要有美国Solarius、德国NanoFocus等,产品涵盖共聚焦显微镜、三维表面测量仪、全自动影像测量仪、光学显微镜等。

我们的主要产品:NanoFocus、Solarius系列,主要是通过共聚焦技术实现产品表面的高精度测量。我们的设备主要应用于电子与半导体、汽车工业、能源技术、印刷和造纸工业、安全技术、医疗技术、微系统、机械加工技术以及材料科学等。

公司由具备多年专业化水准,熟悉行业应用并具备创造精神的技术人员、营销人员组成,致力于为用户提供高效、合适的解决方案以及优质的售前、售中和售后的全程服务,包括产品检测、专业的产品咨询、设备安装调试及培训、售后一年内免费的保养维护以及维修服务,至今赢得了众多企业的信赖和支持!

详细信息

马尔MarSurf M400简便易用的便携式粗糙度测量仪
测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估。
这通常需要更熟练的操作员,更多时间和更多调整工作。
MarSurf M 400 在“移动表面度量”范围内提供了必要的功能,而且快速、简单易用。

  • 移动和固定测量仪器
  • 粗糙度和波纹度测量
  • 扫描长度高达 26 mm
  • 超过 50 R,W 和 P 表面参数
  • 根据标准自动选择截止和扫描长度
  • 动态校准功能
  • 驱动装置和评估仪器之间可选有线和蓝牙连接 (4 m)
  • 磁性测头支架(独立测头)BFW 250
  • 机动测头归零设置(最大 7.5 mm)

测量原则

探针法

输入

BFW 无导块系统

测量范围 mm

+/- 250 µm(高达 +/- 750 µm,3x 测杆长度)

轮廓分辨率

测量范围 +/- 250 µm:8 nm
测量范围 +/- 25 µm:0.8 nm

过滤器符合 ISO/JIS 标准

ISO 11562 标准高斯滤波
ISO 13565 标准滤波

采样长度数量符合 ISO/JIS

1-5

接触速度

0,2 mm/s; 1,0 mm/s

测量力 (N)

0.75 mN

重量驱动单元

约 0.9 kg

重量测量仪

约 1.0 kg

表面参数

超过 50 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 
轮廓

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产品参数

产地类别 进口
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