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MARSURF XR1 马尔粗糙度测量站

型号
MARSURF XR1
参数
产地类别:进口

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光学测量仪,三维表面测量仪、轮廓仪、激光共聚焦显微镜、非接触式三维形貌测量仪、白光干涉仪、全自动影像测量仪、工业CT、扫描电镜、尼康显微镜

上海曼戈斐光学技术有限公司(Megphy)是一家专业从事代理光学测量仪器的公司。代理品牌主要有美国Solarius、德国NanoFocus等,产品涵盖共聚焦显微镜、三维表面测量仪、全自动影像测量仪、光学显微镜等。

我们的主要产品:NanoFocus、Solarius系列,主要是通过共聚焦技术实现产品表面的高精度测量。我们的设备主要应用于电子与半导体、汽车工业、能源技术、印刷和造纸工业、安全技术、医疗技术、微系统、机械加工技术以及材料科学等。

公司由具备多年专业化水准,熟悉行业应用并具备创造精神的技术人员、营销人员组成,致力于为用户提供高效、合适的解决方案以及优质的售前、售中和售后的全程服务,包括产品检测、专业的产品咨询、设备安装调试及培训、售后一年内免费的保养维护以及维修服务,至今赢得了众多企业的信赖和支持!

详细信息

马尔MARSURF XR1 粗糙度测量站 用户友好型表面度量的理想的低成本入门仪器。
该计算机式仪器根据国际标准为测量室或生产提供所有常见的表面参数和轮廓。Mahr 的 MarSurf XR 1 代表了粗糙度评估软件的成就。

  • 超过 80 种符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓
  • 带通滤波器 Ls 符合当前标准;Ls 也可根据需要关闭或更改。
  • 全面的测量记录
  • 快速创建 Quick&Easy 测量程序的 Teach-in 方法
  • 根据标准选择截止和扫描长度的自动功能
  • 通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法(静态和动态)
  • 可调维护和校准间隔
  • 多种测量站配置可使用自定义应用
  • 多种选项,提高系统灵活性
  • 各种用户权限级别,避免设备被滥用,避免未授权人员使用

测量原则

探针法

输入

BFW 无导块系统配有 MarSurf SD 26 驱动装置和/或 PHT 有导块系统配有 MarSurf RD 18 驱动装置

测量范围 mm

+/- 250 µm(高达 +/- 750 µm,3x 测杆长度)适用于 BFW 系统
350 µm 适用于 PHT 测头系统

过滤器符合 ISO/JIS 标准

ISO 11562 标准高斯滤波
ISO 16610-21/OSO 16610-31 标准滤波

扫描长度(文本)

MarSurf GD 26 / SD 26:自动;0.56 mm*;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm,
测量至挡块,可变
* 扫描长度取决于 驱动装置
RD 18:自动;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm

采样长度数量符合 ISO/JIS

1 至 50(默认:5)

测量力 (N)

0,7 mN

表面参数

超过 80 种
符合 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓

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产地类别 进口
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