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高速LED光学特性仪LE SERIES
- 型号
- 参数
- 产地类别:国产
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分光光度计、液晶盒厚分光测试仪、色度仪;理化分析仪器、装置和其他测量或检验仪器、器具、机器商品（包含相应另部件、消耗品）的批发、进出口、光学膜厚仪、
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。
详细信息
特 点
• 高速LED光学特性仪LE SERIES与产线的控制信号同步
• 通过光纤的自由的测试系统
• 实现短2ms～的光谱测量（LE-5400）
•高速LED光学特性仪LE SERIES 同以往的产品相比，测量・演算・评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型
测量项目
三刺激值（kX, kY, kZ）* | 〔JIS Z 8724〕 |
色度坐标(u, v) | 〔CIE 1960UCS〕 |
色度坐标(x, y) | 〔JIS Z 8724〕 |
色度坐标(u', v') | 〔CIE 1976UCS〕 |
主波长（Dominant）和刺激纯度（Purity） | 〔JIS Z 8701〕 |
相关色温度和Duv | 〔JIS Z 8725〕 |
演色性评价数（Ra, R1～R15） | 〔JIS Z 8726〕 |
峰值（λmax）的波长、高度、半值幅 |
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第二峰值的波长和高度 |
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积分值（Summation） |
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重心波长 |
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波长的高度 |
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相比峰值波长的短波长侧、长波长侧的积分值 |
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* 亮度(kY)的值，因测量的LED和检出部的光学系不同，
只有在校准(距离、位置、方向)中有再现性时才算有效。
