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低相位差高速检查设备RE-200
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分光光度计、液晶盒厚分光测试仪、色度仪;理化分析仪器、装置和其他测量或检验仪器、器具、机器商品（包含相应另部件、消耗品）的批发、进出口、光学膜厚仪、
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。
详细信息
特 点
• 低相位差高速检查设备RE-200可测从0nm开始的低（残留）相位差
• 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
（相当于快速的0.1秒以下来处理）
• 无驱动部，重复再现性高
• 设置的测量项目少，测量简单
• 测量波长除了550nm以外，还有各种波长
• Rth测量、*角测量
（需要option的自动旋转倾斜治具
• 通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性
(本系统属特注。）
测量项目
• 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
• 主轴方位角（θ[deg.]）
• 椭圆率（ε）・方位角（γ）
• 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
• 低相位差高速检查设备RE-200位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
• 树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）
