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MI4050 FIB聚焦离子束
- 型号
- MI4050
失效分析，芯片开封，表面观测，金相研磨，光学及视频显微镜，超声波检测，X射线检测，激光微纳加工等
似空科学仪器（上海）有限公司是一家仪器设备的经销商。我们致力于为中国制造业和研发机构提供高精度、符合人体工学设计的仪器设备。我们也梦想有朝一日，能够充分掌握市场需求，深刻理解仪器设备的技术原理，聚集一批有激情、有理想、有技术的人，为中国的制造业升级以及中国科研走向世界，提供自有知识产权的先进仪器设备！
仪器设备发展的是探测手段和传感器不对被测目标产生任何干扰，企业管理的是一切以市场为核心，不以自我的意愿抗拒市场的趋势，代替客户的喜好，于是我们取名“似空”，希望以忘我的精神服务客户。
详细信息
日立新型FIB…智能聚焦离子束系统 IM4050
自1986年以来，通过多年的fIB经验，MI 4050被赋予了高度稳定的离子源，所建立的离子光学使锐利的光束剖面和高束电流能够成像各种功能。 DED功能涵盖对FIB的广泛需求，如气体化学MI 4050可以帮助您推进您的研究和开发。
MI 4050特征
经过验证的聚焦离子束技术既能实现高分辨率、高对比度的SIM成像，又能快速、大面积FIB铣削。
良好的梁稳定性，级精度和控制软件允许高精度的自动铣削加工。
微采样系统和低压FIB能力支持现场高质量TEM样品制备。
大电流FIB使铣削面积更大，材料更坚硬，并且比以往任何时候都更高的吞吐量。高通量离子研磨有助于减少像树脂emb这样的样品准备步骤。 编辑和机械抛光。此外，也可以避免因抛光而产生的样品应变或分层。
大电流为90 nA的高性能FIB
高分辨率、高对比度SIM成像。
保证了4nm的高分辨率。高对比度SIM从低放大率成像到高放大率。
自动切割的三维结构分析
用微取样法制备现场高质量TEM样品
微取样系统
主要特点：
1.高效率、高质量加工，二次离子分辨率：4nm@30kV
2.高分辨、高衬度SIM成像
3.全自动TEM样品制备
4.大尺寸样品加工
应用领域：
1.纳米材料微加工
2.半导体及电子元器件材料
3.生命科学
