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Zeta-388 光学轮廓仪
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代理商亿诚恒达科技有限公司,在北京和香港两地注册。北京公司位于北京海淀中关村核心区域,是一家专门代理营销进口科学仪器、测试测量设备的高科技企业,所经营的产品涵盖材料科学、化学分析、绿色能源、半导体及微电子科学等领域。公司本着“诚信、务实、品质、服务”的经营理念,已经为国内许多用户提供了*的仪器设备,专业的技术咨询和完善的售后服务。
公司主要代理产品有:*材料试验机,疲劳试验机,冲击试验机,电化学工作站,恒电位/恒电流仪,石英晶体微天平,三维形貌仪,轮廓仪,原子力显微镜(AFM),扫描探针显微镜(SPM),摩擦磨损试验机,瓶盖扭矩测量仪,轴承扭矩测量仪,高频疲劳试验机。
亿诚恒达科技有限公司愿与客户携手,共创美好未来!
Zeta-388 光学轮廓仪
Zeta-388的配置灵活并易于使用,并集合了六种不同的光学量测技术。ZDot™测量模式可同时收集高分辨率3D扫描和True Color无限远焦距图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量、Nomarski干涉对比显微镜和剪切干涉测量。ZDot或集成宽带反射计都可以对薄膜厚度进行测量。Zeta-388也是一款显微镜,可用于样品检查或自动缺陷检测。Zeta-388通过提供全面的台阶高度、粗糙度和薄膜厚度的测量以及缺陷检测功能,以及晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送,适用于研发及生产环境。
· 采用ZDot和Multi-Mode(多模式)光学器件的简单易用的光学轮廓仪,具有广泛的应用
· 可用于样品复检或缺陷检测的高质量显微镜
· ZDot:同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像
· ZXI:白光干涉测量技术,适用于z向分辨率高的广域测量
· ZIC:干涉对比度,适用于亚纳米级别粗糙度的表面并提供其3D定量数据
· ZSI:剪切干涉测量技术提供z向高分辨率图像
· ZFT:使用集成宽带反射计测量膜厚度和反射率
· AOI:自动光学检测,并对样品上的缺陷进行量化
· 生产能力:通过测序和图案识别实现全自动测量
· 晶圆传送机械臂: 自动加载直径为50mm至200mm的不透明(如硅)和透明(如蓝宝石)样品
Zeta-388 光学轮廓仪
· 台阶高度:纳米到毫米级别的3D台阶高度
· 纹理:平滑到非常粗糙表面的粗糙度和波纹度
· 外形:3D翘曲和形状
· 应力:2D薄膜应力
· 薄膜厚度:30nm到100μm透明薄膜厚度
· 缺陷检测:捕获大于1μm的缺陷
· 缺陷复检:采用KLARF文件作为导航以测量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置