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A3-SR 反射式膜厚测量仪
- 型号
- A3-SR
~苏州瑞格谱光电科技有限公司位于江苏省苏州工业园区，是一家致力于给面板显示行业、计量单位、高校科研机构、第三方检测机构以及光学检测设备仪器生产企业提供一些光学检测仪器及环境可靠性、温度、电学等测试设备的企业；是集生产、销售、维护为一体的综合性仪器服务商，能为各单位的生产、研发、质量检测、实验室等部门提供精确的技术选型及完善的售前和售后服务。经过不懈努力瑞格谱已与多家著名仪器仪表及质检计量单位、军工科研院所、高校实验室等建立了稳固、广泛的技术与销售合作关系，瑞格谱逐渐发展成为华东地区的优质仪器供应商。
详细信息
反射式膜厚测量仪
A3-SR 系列反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜，手机触摸屏ITO等镀膜厚度，PET柔性涂布的胶厚等厚度，LED镀膜厚度，建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。A3-SR系列可用于测量2纳米到3000微米的膜厚，测量精度达到0.1纳米。 在折射率未知的情况下，A3-SR 还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。配手持式探头,A3-SR 可以用来一键式测量车灯罩表面硬化膜(包括过渡层)和背面的防雾层,精度达到0.02um, 只需1秒钟,还可以测量内饰件,外饰件的铝阳极氧化层和漆层的厚度,精度达到0.02um
此外，A3-SR 还可用于测量样品的颜色和反射率。样品光斑在1毫米以内。A3-SR进行测量简单可靠，实际测量采样时间低于1秒。配合我们的Apris SpectraSys 软件进行手动测量，每次测量时间低于5秒。Apris SpectraSys支持50层膜以内的模型并可对多层膜厚参数进行测量。Apris SpectraSys 软件还拥有近千种材料的材料数据库，同时支持函数型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光学（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型（Maxwell Garnett, Bruggeman）EMA 等折射率模型。
同时，客户还可以通过软件自带数据库对材料，菜单进行管理并回溯检查测量结果。目标应用：半导体镀膜,光刻胶玻璃减反膜测量蓝宝石镀膜,光刻胶ITO 玻璃太阳能镀膜玻璃各种衬底上的各种膜厚，颜色测量卷对卷柔性涂布光学膜其他需要测量膜厚的场合
