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nanoSAQLA 多检体纳米粒径测量系统

型号
nanoSAQLA
参数
测量范围:0.6nm~10μm微米 产地类别:进口 分散方式:湿法分散 价格区间:20万-30万 仪器种类:动态光散射 应用领域:食品,电子,制药
大塚电子(苏州)有限公司

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      大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价·检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源·照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价·检查。

  以高速·高精度·高可靠性且有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础, 在中国的显示器 市场上有着20年以上销售实例, 为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源·照明 相关方面,对研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。

  在中国的苏州有设立售后服务点,为了能迅速且周到的为顾客服务而努力。

  我公司的母公司日本大塚电子集团,隶属于大冢集团, 一直以来都谨守大冢集团 的企业理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢为人类的健康创造革新的产品),不断的推出创新产品,面向开展业务,为社会作出贡献。

 

详细信息

 多检体纳米粒径测量系统 nanoSAQLA

多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLa

多检体纳米粒径测量系统nanoSAQLA利用动态光散射法(DLS法)的粒径测量(粒径0.6nm~10μm)仪器。

追求更高品质管理的需求,搭载了各种功能。

可对应检体范围广,低浓度~高浓度类,新光学系,轻便•小型,实验室标配。实现标准1分钟高速测量。

新产品,非浸泡型,不受夹杂物的影响,无自动取样器,“5检体连续测量”的标准设备。

特点

  • 只需一台,轻松实现5检体连续测量
  • 低浓度到高浓度都可对应
  • 高速测量,标准时间1分钟
  • 搭载了简单的测量功能 (1键测量)
  • 内置非浸泡型的cell block,无分注夹杂物
  • 搭载温度梯度功能

测量范围(理论值)

  • 粒径 0.6nm~10μm
  • 浓度范围 0.00001~40%
  • 温度范围 0~90℃*

式样

型号 多检体纳米粒径测量系统
测量原理 动态光散射法
光源 高出力半导体激光*1
检出器 高感光度APD
连续测量 5检体
测量范围 0.6nm ~ 10μm
对应浓度 0.00001 ~ 40% *2
温度 0 ~ 90℃ (有温度梯度功能) *3
規格 遵照 ISO 22412:2017
遵照JIS Z 8828:2013
遵照JIS Z 8826:2005
尺寸 W240 X D480 X H375 mm
重量 约18 kg
软件 平均粒径解析 (累积法解析)
粒度分布解析
(Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法)
粒度分布叠写
逆相关函数?残差plot
粒径monitor
粒径显示范围 (0.1 ~ 106 nm)
分子量计算功能

 

*1 根据激光安全基准 (JIS C6802)级别区分,本仪器的安全级别为1级。
*2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%、牛黄胆酸:~40%
*3 标准glass cell的批量测量的情况。
一次性cell或连续测量时, 15 ~ 40℃ (不对应温度梯度)

 

测量范例

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a02.jpg

 

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产品参数

测量范围 0.6nm~10μm微米
产地类别 进口
分散方式 湿法分散
价格区间 20万-30万
仪器种类 动态光散射
应用领域 食品,电子,制药
企业未开通此功能
详询客服 : 0571-87858618
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