起订量：
nanoSAQLA 多检体纳米粒径测量系统
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价·检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源·照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价·检查。
以高速·高精度·高可靠性且有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础， 在中国的显示器 市场上有着20年以上销售实例， 为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源·照明 相关方面，对研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。
在中国的苏州有设立售后服务点，为了能迅速且周到的为顾客服务而努力。
我公司的母公司日本大塚电子集团，隶属于大冢集团， 一直以来都谨守大冢集团 的企业理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢为人类的健康创造革新的产品)，不断的推出创新产品，面向开展业务，为社会作出贡献。
详细信息
多检体纳米粒径测量系统 nanoSAQLA
多检体纳米粒径测量系统nanoSAQLA利用动态光散射法(DLS法)的粒径测量（粒径0.6nm～10μm）仪器。
追求更高品质管理的需求，搭载了各种功能。
可对应检体范围广，低浓度～高浓度类，新光学系，轻便•小型，实验室标配。实现标准1分钟高速测量。
新产品，非浸泡型，不受夹杂物的影响，无自动取样器，“5检体连续测量”的标准设备。
特点
- 只需一台，轻松实现5检体连续测量
- 低浓度到高浓度都可对应
- 高速测量，标准时间1分钟
- 搭载了简单的测量功能 (1键测量)
- 内置非浸泡型的cell block，无分注夹杂物
- 搭载温度梯度功能
测量范围（理论值）
- 粒径 0.6nm～10μm
- 浓度范围 0.00001～40％
- 温度范围 0～90℃*
式样
| 型号 | 多检体纳米粒径测量系统 |
|---|---|
| 测量原理 | 动态光散射法 |
| 光源 | 高出力半导体激光*1 |
| 检出器 | 高感光度APD |
| 连续测量 | 5检体 |
| 测量范围 | 0.6nm ～ 10μm |
| 对应浓度 | 0.00001 ～ 40% *2 |
| 温度 | 0 ～ 90℃ （有温度梯度功能） *3 |
| 規格 | 遵照 ISO 22412：2017 |
| 遵照JIS Z 8828：2013 | |
| 遵照JIS Z 8826：2005 | |
| 尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
| 重量 | 约18 kg |
| 软件 | 平均粒径解析 （累积法解析） |
| 粒度分布解析 | |
| （Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法） 粒度分布叠写 逆相关函数?残差plot 粒径monitor 粒径显示范围 （0.1 ～ 106 nm） 分子量计算功能 |
*1 根据激光安全基准 （JIS C6802）级别区分，本仪器的安全级别为1级。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黄胆酸：～40%
*3 标准glass cell的批量测量的情况。
一次性cell或连续测量时， 15 ～ 40℃ （不对应温度梯度）
测量范例
关联产品
