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nanoSAQLA AS50 多检体纳米粒径测量自动进样系统
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生产厂家大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价·检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源·照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价·检查。
以高速·高精度·高可靠性且有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础, 在中国的显示器 市场上有着20年以上销售实例, 为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源·照明 相关方面,对研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。
在中国的苏州有设立售后服务点,为了能迅速且周到的为顾客服务而努力。
我公司的母公司日本大塚电子集团,隶属于大冢集团, 一直以来都谨守大冢集团 的企业理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢为人类的健康创造革新的产品),不断的推出创新产品,面向开展业务,为社会作出贡献。
nanoSAQLA搭载Auto sampleAS50,多可连续自动测量50个样品。1个样品的测量时间约1分钟,高速且测量过程中可追加样品。操作简便,作业时间短。玻璃一次性样品池可对应有机溶媒。
产品信息
nanoSAQLA的特点
多检体纳米粒径测量自动进样系统的特点
测量范围(理论值)
式样
型号 | 多检体纳米粒径测量系统 |
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测量原理 | 动态光散射法(光子相关法) |
光源 | 高出力半导体激光(660nm、70mW)*1 |
检出器 | 高感光度APD |
连续测量 | 多5个样品 |
测量范围 | 0.6nm ~ 10μm |
浓度范围 | 0.00001 ~ 40% *2 |
温度范围 | 0 ~ 90℃ (具备温度梯度功能) *3 |
样品容量 | 矩形样品池:1.2mL~、微量样品池:20μL~ |
尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
重量 | 约18 kg |
软件 | 平均粒径解析 (累积法解析) |
粒度分布解析 | |
(Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法) 粒度分布复写 逆相关函数·残差图 粒径监测粒径显示范围 (0.1 ~ 106 nm) 分子量计算功能 | |
选配 | 微量样品池(可对应20μL)、荧光滤光片 |
*1 本设备激光等级符合激光安全基准(JIS C6802)等级1。
*2 PS Latex粒子:0.00001 ~ 10%、牛黄胆酸:~40%
*3 利用批量样品池架使用玻璃样品池的情况
使用5联装样品池架或一次性样品池的情况15 ~ 40℃
*4 选配
型号 | Auto sample AS50 |
测量范围 | 3nm ~ 10μm |
浓度范围 | 0.001 ~ 40% |
温度范围 | 15 ~ 40℃ |
连续测量 | 多50个样品 |
样品容量 | AS样品池0.4mL~ |
尺寸 | W240 X D480 X H275 mm |
重量 | 12 kg |
测量案例
连续测量溶媒不同的5个样品
氧化铝的粒径评价
使用温度梯度功能进行测量
牛血清蛋白(BSA)粒径的温度依存性
对应宽幅粒径范围的测量
【微小粒子】硫胺素0.6nm的粒径测量
【大粒子】乳胶10360nm的粒径测量
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