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线扫描膜厚仪离线型
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生产厂家大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价·检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源·照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价·检查。
以高速·高精度·高可靠性且有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础, 在中国的显示器 市场上有着20年以上销售实例, 为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源·照明 相关方面,对研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。
在中国的苏州有设立售后服务点,为了能迅速且周到的为顾客服务而努力。
我公司的母公司日本大塚电子集团,隶属于大冢集团, 一直以来都谨守大冢集团 的企业理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢为人类的健康创造革新的产品),不断的推出创新产品,面向开展业务,为社会作出贡献。
产品信息
特点
·全面·高速·高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测
·硬件·软件均为创新设计
·作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援
·实现高精度测量
·实现高速测量(500万点以上/分)
式样
测量位置 | 膜厚(FFT) |
位置分解能 | 1mm以下 |
测量尺寸 | 大250mm宽×无限长度限制 |
波长范围 | 400~920nm |
各单元的波长范围 | 约0.6nm |
膜厚测量范围 | 2~250μm |
测量间隔 | 100msec~ |
装置尺寸 | W600×D680×H1250mm |
测量例
250mm宽的薄膜案例