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ZK-TS-80L IC封装可靠性测试-冷热冲击试验箱
- 型号
- ZK-TS-80L
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东莞中科测试设备有限公司主营：快速温变恒温恒湿试验箱，步入式环境试验箱，温湿度循环试验箱。是一家专业从事气候环境试验设备、机械环境试验设备、综合环境试验设备研发、设计、制造、售后为一体的科技型企业。中科测试设备以“环境模拟与可靠性测试”为研制动力，公司通过吸取欧美与日本等*技术与制造工艺，不断革新与升级自身技术制造工艺水平，研制出满足不同标准的冷热循环线性、高温高湿线性、高温中湿线性、高温低湿线性、低温中湿线性、低温低湿线性等恶劣气候环境试验箱。中科测试设备致力于为用户提供设计可靠的、安全易用的、节能环保的可靠性试验设备和行业性的解决方案，帮助用户与合作伙伴取得成功。
中科测试设备拥有一支专业的环境模拟与可靠性试验设备研制团队，平均从业经验15年以上，具备成熟的研发流程与制造工艺。专注为航空航天工业、国防研发、高校院所科研、电工电子、化工涂料、材料科学、智能手机、5G技术、光电通讯器件、新能源动力电池、太阳能光伏组件、OLED制造、芯片制备、汽车配套、半导体材料及元器件、医药卫生、生物科技等单位及企业提供符合ISO9001：2008、GB、GJB、IEC、ASTM、DIN、国家计量检测中心、华南计量检测中心认证合格的高低温试验箱、恒温恒湿箱、温度循环试验箱、湿热试验箱、温度交变试验箱、温度冲击试验箱、快速温变箱、PCT高压加速寿命老化箱、HAST高加速加压试验箱、温度低气压（高度）试验箱、防爆型高低温试验箱、氙灯辐射老化试验箱、紫外光辐射老化试验箱、工业精密烘箱、步入式高低温湿热试验箱、复合型盐雾腐蚀试验机、淋雨试验箱、砂尘试验箱、万能材料拉力试验机、电动式高频振动试验台、温度/湿度/振动三综合试验系统、温度/湿度/盐雾复合试验舱、温度/湿度/光照三综合试验室等环境模拟与可靠性试验设备和非标定制方案设备。
未来中科测试设备坚持走“匠心研制，服务用户”的经营理念，把中科测试设备打造成为国内环境模拟与可靠性测试设备的杰出制造商，为用户提供设计可靠的、安全易用的、节能环保的环境模拟与可靠性试验设备及完善的售前、售后服务，为用户解决使用过程中的后顾之忧为己任。
中科理念：
诚信：建立信任与具有担当的合作关系。
专注：始终坚持以“环境模拟与可靠性测试”为研制方向。
责任：用心做好每一台设备，帮助用户与合作伙伴取得成功。
品质：匠心研制，打造成为国内环境模拟与可靠性测试设备杰出制造商。
详细信息
IC封装可靠性测试-冷热冲击试验箱概述
1.近年来随着我国半导体制造业的不断壮大，对IC芯片的制备工艺及品质要求更加精密，同步配套的TC设备逐渐国产化，在此机会下，东莞中科测试设备有限公司研制出与100万级无尘车间制备工艺匹配的可靠性试验设备（冷热冲击试验箱）。
2.控制系统：中英文菜单式人机对话操作方式，有开机自检功能、温度线性校正、自动停机、系统预约定时启动功能；实现工业自动化，带数据交互功能，能与客户主机链接实现远程监控，了解设备与试验运行状态，可以通过任何移动终端监控。
3.低温储存室：箱内温度状态由风道中的加热器、蒸发器以及风机的工作状态决定，制冷剂经过膨胀阀节流进入低温储存室内蒸发器后，吸收低温储存室内热量并气化，使低温储存室温度降低；气化后的工质被压缩机吸入并压缩成高温、高压气体进入冷凝器中被冷凝成液体，再经过滤器，后通过膨胀阀节流后，重新又进入低温储存室内蒸发器中吸热并气化然后再被压缩机吸入压缩。如此往复循环工作，使低温储存室降到设置的温度要求。
4.高温储存室：中央控制器从感温组件检测实时信号，与设定温度信号进行比较，得到比较信号，由仪表PID逻辑电路输出信号控制固态继电器的导通或关断的时间比例调节加热器输出功率大小，从而达到自动控温的目的。
5.冲击温度测试室：由仪表自动控制高低温气阀，在低温或高温储存室之间切换，分别与高温箱或低温箱形成闭路空气循环系统，迅速达到试验的目标温度。
IC封装可靠性测试-冷热冲击试验箱技术新能
1.温度冲击范围：-40℃～+150℃；-55℃～+150℃；-65℃～+150℃。（高温可定制：+250℃）
2.高低温区温度范围：
A.高温蓄能区：室温～+155℃。（定制性：室温～+215℃）
B.低温蓄能区：室温～-55℃；室温～-70℃；室温～-80℃。
3.测试区温度范围：
A.高温冲击温度范围：+50℃～+150℃。（定制型：+50℃～+200℃）
B.低温冲击温度范围：-10℃～-40℃；-10℃～-55℃；-10℃～-65℃。
C.温度波动度：±0.5℃。
D.温度均匀度：±2.0℃。
4.高低温测试区温度恢复和转换时间：≤5分钟。（可定制温变速率为：10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，线性与非线性温变）
5.试验测试温度范围：-40℃～+85℃；-40℃～+120℃；-55℃～+125℃。（可根据试验要求选择温度范围）
6.试验测试方式：高低温冲击试验、冷热冲击试验、高低温恒定试验、高低温交变冲击试验。
7.试品重量：8 KG（可订制其他规格）。
8.使用电源：AC3∮5W 380V±10% ；50HZ。
9.重量约：480KG。
10.在无试验负荷、无层架情况下稳定20分钟后测定的性能。
11.温度均匀度定义为：实验机几何中心点处（计量单位空间9点测温法）。
12.设备制造标准：GB/T10586-2006，GB/T10592-1989。
13.设备检定标准：GB/T5170.2-1996，GB/T5170.5-1996。
14.设备的型号和规格选择如下：
型 号 内箱尺寸（mm） 外箱尺寸（mm）
ZK-TS -80L W500×H600×D500 W850×H1680×D1250
ZK-TS-120L W500×H750×D600 W850×H1880×D1350
ZK-TS-150L W500×H600×D500 W850×H1680×D1250
ZK-TS-225L W500×H750×D600 W850×H1880×D1350
ZK-TS-408L W600×H850×D800 W900×H1980×D1550
ZK-TS-800L W800×H1000×D1000 W1100×H2150×D1650
ZK-TS-1000L W1000×H1000×D1000 W1300×H2150×D1650
可按需求尺寸非标定制......
冷热冲击试验箱测试执行与满足标准
1.GB2423.2-2008（IEC68-2-2）试验B：高温试验方法。
2.GJB150.3A-2009（MIL-STD-810D）高温试验方法。
3.GB/T2423.1-1989 低温试验方法。
4.GB/T2423.2-1989 高温试验方法。
5.GB/T2423.22-1989 温度变化试验。
6.GJB150.5-86 温度冲击试验。
7.GJB360.7-87 温度冲击试验。
8.GJB367.2-87 405 温度冲击试验。
9.国军标 GJB150.3-2009/GJB150.4-2009。
