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ZK-TS-80L 冷热冲击试验箱Thermal Shock Test
- 型号
- ZK-TS-80L
东莞中科测试设备有限公司主营：快速温变恒温恒湿试验箱，步入式环境试验箱，温湿度循环试验箱。是一家专业从事气候环境试验设备、机械环境试验设备、综合环境试验设备研发、设计、制造、售后为一体的科技型企业。中科测试设备以“环境模拟与可靠性测试”为研制动力，公司通过吸取欧美与日本等*技术与制造工艺，不断革新与升级自身技术制造工艺水平，研制出满足不同标准的冷热循环线性、高温高湿线性、高温中湿线性、高温低湿线性、低温中湿线性、低温低湿线性等恶劣气候环境试验箱。中科测试设备致力于为用户提供设计可靠的、安全易用的、节能环保的可靠性试验设备和行业性的解决方案，帮助用户与合作伙伴取得成功。
中科测试设备拥有一支专业的环境模拟与可靠性试验设备研制团队，平均从业经验15年以上，具备成熟的研发流程与制造工艺。专注为航空航天工业、国防研发、高校院所科研、电工电子、化工涂料、材料科学、智能手机、5G技术、光电通讯器件、新能源动力电池、太阳能光伏组件、OLED制造、芯片制备、汽车配套、半导体材料及元器件、医药卫生、生物科技等单位及企业提供符合ISO9001：2008、GB、GJB、IEC、ASTM、DIN、国家计量检测中心、华南计量检测中心认证合格的高低温试验箱、恒温恒湿箱、温度循环试验箱、湿热试验箱、温度交变试验箱、温度冲击试验箱、快速温变箱、PCT高压加速寿命老化箱、HAST高加速加压试验箱、温度低气压（高度）试验箱、防爆型高低温试验箱、氙灯辐射老化试验箱、紫外光辐射老化试验箱、工业精密烘箱、步入式高低温湿热试验箱、复合型盐雾腐蚀试验机、淋雨试验箱、砂尘试验箱、万能材料拉力试验机、电动式高频振动试验台、温度/湿度/振动三综合试验系统、温度/湿度/盐雾复合试验舱、温度/湿度/光照三综合试验室等环境模拟与可靠性试验设备和非标定制方案设备。
未来中科测试设备坚持走“匠心研制，服务用户”的经营理念，把中科测试设备打造成为国内环境模拟与可靠性测试设备的杰出制造商，为用户提供设计可靠的、安全易用的、节能环保的环境模拟与可靠性试验设备及完善的售前、售后服务，为用户解决使用过程中的后顾之忧为己任。
中科理念：
诚信：建立信任与具有担当的合作关系。
专注：始终坚持以“环境模拟与可靠性测试”为研制方向。
责任：用心做好每一台设备，帮助用户与合作伙伴取得成功。
品质：匠心研制，打造成为国内环境模拟与可靠性测试设备杰出制造商。
详细信息
冷热冲击试验箱Thermal Shock Test概述
1.冷热冲击试验箱是模拟周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验（冲击），应用于半导体元器件、OLED、EVA、PCB、IC芯片、集成电路等作温度快速变化条件下热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，是确认产品品质的理想测试工具（可靠性试验）。
2.控制系统优势：中英文菜单式人机对话操作方式，有开机自检功能、温度线性校正、自动停机、系统预约定时启动功能；实现工业自动化，带数据交互功能，能与客户主机链接实现远程监控，了解设备运行状态，可以通过任何移动终端监控。
冷热冲击试验箱Thermal Shock Test性能
1.温度冲击范围：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、-65℃～+150℃。（高温可定制：+250℃）
2.高低温区温度范围：
A.高温蓄能区：室温～+165℃。
B.低温蓄能区：室温～-55℃、室温～-70℃、室温～-80℃。
3.测试区温度范围：
A.高温冲击温度范围：+50℃～+150℃。
B.低温冲击温度范围：-10℃～-40℃、-10℃～-55℃、-10℃～-65℃。
4.温度波动度：±0.5℃。
5.温度均匀度：±2.0℃。
6.高温区升温时间：RT（室温）～＋165℃小于 35min（室温在＋10～＋25℃时）。
7.低温区降温时间：RT（室温）～-55℃小于 75min（室温在＋10～＋25℃时）。
8.低温冲击温度恢复和转换时间：≤5min。（可定制温变速率为：10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，线性与非线性温变）
9.试验测试温度范围：-40℃～+85℃；-40℃～+120℃；-55℃～+125℃；-65℃～+150℃。（按要求选择）
10.高温槽与低温槽风门切换时间：≤3S。
11.试品重量：≤8 KG。（可按需求定制）
12.整机噪声：＜75 dB。
13.使用电源：AC3∮5W 380V±10% ；50HZ。
14.总功率：15.5KW。
15.大工作电流：25.0A。
16.重量约：480KG。
17.在无试验负荷、无层架情况下稳定20分钟后测定的性能。
18.温度均匀度定义为：实验机几何中心点处（计量单位空间9点测温法）。
19.设备制造标准：GB/T10586-2006，GB/T10592-1989。
20.设备检定标准：GB/T5170.2-1996，GB/T5170.5-1996。
冷热冲击试验箱测试条件
1.GB2423.2-2008（IEC68-2-2）试验B：高温试验方法。
2.GJB150.3A-2009（MIL-STD-810D）高温试验方法。
3.GB/T2423.1-1989 低温试验方法。
4.GB/T2423.2-1989 高温试验方法。
5.GB/T2423.22-1989 温度变化试验。
6.GJB150.5-86 温度冲击试验。
7.GJB360.7-87 温度冲击试验。
8.GJB367.2-87 405 温度冲击试验。
9.国军标 GJB150.3-2009/GJB150.4-2009。
10.MIT-STD-883E Method 1011.9。
11.JESD22-B106。
12.EIAJED- 4701-B-141。
