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SRS-2010 日本napson2探针法扩散电阻测试仪
- 型号
- SRS-2010
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详细信息
日本napson2探针法扩散电阻测试仪
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
*请联系我们。
测量范围
1-10E + 9（Ω）[扩展电阻]
施加电压：10（mV）检测电流：10（pA）至10（mA）
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
*请联系我们。
测量范围
1-10E + 9（Ω）[扩展电阻]
施加电压：10（mV）检测电流：10（pA）至10（mA）
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
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1-10E + 9（Ω）[扩展电阻]
施加电压：10（mV）检测电流：10（pA）至10（mA）
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测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
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测量范围
1-10E + 9（Ω）[扩展电阻]
施加电压：10（mV）检测电流：10（pA）至10（mA）
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
*请联系我们。
测量范围
1-10E + 9（Ω）[扩展电阻]
施加电压：10（mV）检测电流：10（pA）至10（mA）
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
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测量范围
1-10E + 9（Ω）[扩展电阻]
施加电压：10（mV）检测电流：10（pA）至10（mA）
日本napson2探针法扩散电阻测试仪
