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AE-1152D_11C 日本ae-mic超低电阻测试仪
- 型号
- AE-1152D_11C
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详细信息
日本ae-mic超低电阻测试仪
- 非常适合分流电阻器等的超低电阻测量。
- 取消对热电效应的测量
- 脉冲测量电流，以减少测量端子的自热和磨损
- 接触检查功能标准设备
- 测量：0.0000mΩ〜1.5000kΩ
- ％测量值：0.1mΩ〜1kΩ/±50.00％[小分辨率10nΩ]
- GP-IB / RS-232C / Centronics接口（可选）
- 配备BIN功能[BIN1至BIN9] （多可以分类11个），集电极开路输出，LED显示和蜂鸣器声音
- 测量电流/测量电压异常检查电路的标准设备
- 移位输出可能
测量范围和基本精度（环境温度23°C±5°C）
| 测量范围 | 测量范围 | 解析度 | 实测电流 | 测量精度 |
|---|---|---|---|---|
| 1毫欧 | 0.0000mΩ〜1.5000mΩ | 0.1微欧 | 3A | ±（0.01 Pasento RDG Tasu 1Myuomega） ±3Digit [平均] ±4位数[SLOW] ±5digit [快] 内 |
| 10毫欧 | 0.000mΩ至15.000mΩ | 1微欧 | 1A | |
| 100毫欧 | 0.00mΩ至150.00mΩ | 10微欧 | ||
| 1Ω | 0.0000Ω〜1.5000Ω | 100微欧 | 100毫安 | |
| 10Ω | 0.000Ω至15.000Ω | 1毫欧 | ||
| 100Ω | 0.00Ω至150.00Ω | 10毫欧 | 10毫安 | |
| 1KΩ | 0.0000kΩ至1.5,000kΩ | 100毫欧 | 1毫安 | |
| ％ | 0.1mΩ〜1kΩ/±50.00％ | 0.01％[10nΩ] | 看上面 | 参考规格 |
| 测量端子开路电压 | 5V以下 |
|---|---|
| 测量方式 | 4端子测量[可进行接触检查] |
| 采样时间 | [自由运行] 2至10次/秒 |
| [外部启动]大约9毫秒-400毫秒。 | |
| 比较器设定范围 | 上限和下限均为[0至15000]， ％范围：低0至-50％，高0至+ 50％ |
| 比较器判断结果显示 | [BIN1至BIN9]显示和蜂鸣器 |
| 控制信号 | 测量开始信号：以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]开始 |
| 保持信号：断开，“ H” [DC12V]：自由运行，“ L” [0V]：保持 | |
| 判断结果信号[LO / GO（BIN1至BIN9）/ H1] ：集电极开路输出max40V，100mA | |
| 接触错误[CONT-E]： 集电极开路输出大40V，100mA | |
| 测量结束信号[EOC]：集电极开路输出大40V，100mA | |
| 周边环境 | 温度：5℃〜+ 40℃湿度：85％以下 |
| 需要电源 | AC85V-265V，50-60HZ，约60VA |
| 外形尺寸 | 333（W）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡胶脚等突起） |
| 重量 | 约3kg |
| 选项 | ・ RS-232C | 这些选项中 只有 一个 可以内置。 |
|---|---|---|
| ・ GP-IB | ||
| ・打印机输出（Centronics） | ||
| ・打印机电缆 | ||
| ・短接（零欧姆标准电阻） | ||
日本ae-mic超低电阻测试仪
