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HT-391手持式四探针方阻测试仪

型号
参数
应用领域:综合
北京创诚致佳科技有限公司

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详细信息

HT-391手持式四探针方阻测试仪参照硅片电阻率测量的标准(ASTM F84);GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》;GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》;GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》,采集集成电路恒流源系统,可充电式电源系统,上下限设定。


HT-391手持式四探针方阻测试仪功能介绍:

手持式外型结构,适用于车间生产、品管抽检,外出携带测量的场所;也适用于中小型半导体材料生产企业.


HT-391手持式四探针方阻测试仪参数资料:

规格型号

HT-391A

HT-391B

HT-391C

1.方块电阻范围

10~2.00×102Ω/□

10~2.00×103Ω/□

10~2.00×104Ω/□

2.电阻率范围

1~2×103Ω-cm

1~2×104Ω-cm

1~2×105Ω-cm

3.分辨率

0.01Ω

0.01Ω

0.01Ω

4.显示读数

液晶显示:电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度

5.测试方式

单电测量

6.工作电源

5V.1000mA

7. 误差

≤4.5%(标准样片结果)

8.选配

选配1.方形探头; 选配2.直线形探头;探针间距;选配3:探针间距1mm;2mm;3mm三种规格; 选配4:探针材质:碳化钨针;镀金磷铜半球形针


参数资料

规格型号

HT-392A

HT-392B

HT-392C

1.方块电阻范围

0.1~2.00×102Ω/□

0.1~2.00×103Ω/□

0.1~2.00×104Ω/□

2.电阻率范围

0.01~2×103Ω-cm

0.01~2×104Ω-cm

0.01~2×105Ω-cm

3.分辨率

0.01Ω

0.01Ω

0.01Ω

4.显示读数

液晶显示:电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度

5.测试方式

单电测量

6.工作电源

5V.1000mA

7. 误差

≤4.5%(标准样片结果)

8.选配

选配1.方形探头; 选配2.直线形探头;探针间距;选配3:探针间距1mm;2mm;3mm三种规格; 选配4:探针材质:碳化钨针;镀金磷铜半球形针


HT-393系列手持式方块电阻测试仪

技术参数资料

规格型号

HT-393A

HT-393B

HT-393C

1.方块电阻范围

0.01~2.00×102Ω/□

0.01~2.00×103Ω/□

0.01~2.00×104Ω/□

2.电阻率范围

0.001~2×103Ω-cm

0.001~2×104Ω-cm

0.001~2×105Ω-cm

3.分辨率

0.001Ω

0.001Ω

0.001Ω

4.显示读数

液晶显示:电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度

5.测试方式

单电测量

6.工作电源

5V.1000mA

7.误差

≤4.5%(标准样片结果)

8.选配

选配1.方形探头; 选配2.直线形探头;探针间距;选配3:探针间距1mm;2mm;3mm三种规格; 选配4:探针材质:碳化钨针;镀金磷铜半球形针


HT-394系列手持式四探针电阻率测试仪

技术参数资料

规格型号

HT-394A

HT-394B

HT-394C

1.方块电阻

0.001~2.00×102Ω/□

0.001~2.00×103Ω/□

0.001~2.00×104Ω/□

2.电阻率

0.0001~2×103Ω-cm

0.0001~2×104Ω-cm

0.0001~2×105Ω-cm

3.分辨率

0.001Ω

0.001Ω

0.001Ω

4.显示读数

液晶显示:电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度

5.测试方式

单电测量

6.工作电源

5V.1000mA

7.误差

≤4.5%(标准样片结果)

8.选配

选配1.方形探头; 选配2.直线形探头;探针间距;选配3:探针间距1mm;2mm;3mm三种规格; 选配4:探针材质:碳化钨针;镀金磷铜半球形针


适用范围:

1.覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,

3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,

4.抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,


功能描述:

1. 四探针单电测量方法

2. 液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.

3. 集成电路系统、恒流输出.

4. 提供中文或英文两种语言操作界面选择


参照标准:

1.硅片电阻率测量的标准(ASTM F84).

2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》



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