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XFlash 6-30 布鲁克 QUANTAX 能谱仪

型号
XFlash 6-30
参数
窗口类型:SW 分辨率:121、123、126、129eV 峰背比:NA 价格区间:面议 探测器类:硅漂移探测器(SDD) 探测器面积:10/30/60/100 mm2mm 仪器种类:进口 应用领域:医疗卫生,环保,生物产业,能源,综合 最大计数率:600kcpscps 元素检测范围:Be - Am
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企业文化:

科技是企业持续发展的源泉,诚信是企业和员工立足之本。公司通过各种有益培训使得员工具有良好的职业素养和职业技能,努力给客户带来好的服务体验。  

 

服务项目:

SEM&EDX&Ion Sputter&Ion milling设备销售以及二手产品的回收、置换、租赁
及以上设备安装、调试、维修、保养、教育训练、应用培训
相关备品配件销售

 

服务时效:

电话:两小时内响应
到达现场:24小时内

 

 

详细信息

布鲁克 QUANTAX 能谱仪结合了出色的能量分辨率和 30 毫米更大的固体角度®活动区域芯片。这使得探测器对希望在EDS应用的整个谱图中使用探测器的分析中非常有吸引力,从轻元素分析到快速面扫描Mapping,以及EDS和EBSD测量的结合。XFlash6-30一定会提供快速的结果。

一:XFlash6-30具有以下优点:

1.XFlash 6-30 出色的能量分辨率(Mn K® 的 123 eV,C K® 的 45 eV 和 F K+ 的 53 eV)®

2.其他可用分辨率为 Mn K® 的 126 eV和129 eV

3.*的脉冲处理能力

4.出色的轻元素和低能量X-ray分析性能(Be - Am 元素范围)

5.空气冷却,不会因为其他冷却系统而产生震动

6.电源打开后立即可用

7.运营成本低

8.免维护操作

9.小尺寸,包括 slim-line technology finger

10.重量低


二:布鲁克 QUANTAX 能谱仪推荐应用领域包括:

1.XFlash 6-30用于 SEM、microprobe、FIB-SEM 的 EDS 系统(焊接波纹管可作为选项使用)

2.将 EDS 和快速 EBSD 分析与eFlash  FS 相结合

3.快速元素面扫描

 

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产品参数

窗口类型 SW
分辨率 121、123、126、129eV
峰背比 NA
价格区间 面议
探测器类 硅漂移探测器(SDD)
探测器面积 10/30/60/100 mm2mm
仪器种类 进口
应用领域 医疗卫生,环保,生物产业,能源,综合
最大计数率 600kcpscps
元素检测范围 Be - Am
企业未开通此功能
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