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TS200-SE MPI 8英寸射频高低温手动探针台
- 型号
- TS200-SE
半导体测试设备，探针台，ESD测试设备，微波射频测量设备，
南京芯测软件技术有限公司，专业打造半导体晶圆级测试及芯片检测等系统集成平台。公司致力为客户提供半导体测试设备国产化改造，以及系统集成的一站式平台服务。公司的目标是成为国内晶圆级在片测试，器件测量系统软硬件的最好供应商，以满足国内用户需求，开发半导体测试设备和系统集成软件定制化服务。
南京芯测的在专注于在片测试系统设备经销与晶圆在片测试软件的研发。产品包括：手动探针台、半自动探针台、全自动探针台、硅光探针台、射频探针台、高低温探针台、除此之外涉及经销ESD测试系统、封装及工艺检测设备等。我们服务的领域涵盖半导体晶圆级在片测试、射频微波器件测量，大功率器件测试、微组装封装工艺检测、失效分析、材料测试等应用行业。
详细信息
毫米波探针台| MPI 8英寸射频高低温手动探针台 TS200-SE
MPI TS200-ShielDEnvironment™（TS200-SE）旨在确保在-60至+ 300°C的温度范围内提供高级EMI / RFI /不透光屏蔽，超低噪声，低泄漏测量功能。
具有ShielDEnvironment™的MPI TS200-SE探针系统可提供最大的EMI屏蔽，并允许进行低噪声的器件在片测量，从而可广泛用于各种应用，例如器件表征和建模，RF /微波，晶片级可靠性，故障分析，设计验证，和大功率。
TS200-SE模块化的模块化设计创造了*的升级途径。所有TS200-SE探测附件，例如热卡盘，显微镜和定位器，都可以升级或重新配置，以适应涵盖工具使用寿命的各种应用需求，从而使拥有成本越来越低。 MPI 8英寸射频高低温手动探针台
特点与优势：
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MPI ShielDEnvironment™是一个高性能的本地环境箱，可为超低噪声，低电容测量提供出色的EMI和不透光的屏蔽测试环境。
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MPI ShielDEnvironment™的一个*可配置的部分，它允许多达 4个端口的RF或多达8个端口的DC / Kelvin或这些配置的组合。MPI ShielDCap™便于屏蔽，易于重新配置-很多小事情在简化日常操作方面发挥了重要作用。完整的ShielDCap™可以很容易地用EMI屏蔽版本的探针卡支架替换。
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TS200-SE与所有MPI手册TS150，TS200和TS300探针系统共享平台和探针压板提升的概念 。MPI空气轴承载物台设计具有简单的单手冰球控制，为快速XY导航和快速晶圆装载提供了极为方便的操作。 通过增加精确的25×25 mm XY-Theta千分尺移动，可以实现精确的定位功能。 请另外检查*的Z卡盘控件。
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可重复的（1 µm）压板提升设计具有三个离散的位置，用于接触，分离（300 µm）和加载（3 mm）。 升降机包括一个安全锁旋转装置，可防止平台意外下降。这些功能提供功能，并且是MPI TS200-SE手动探针系统的标准产品。防止意外的探针或晶片损坏对于系统设计至关重要，并提供直观的控制，准确的触点定位，安全的设置以及简单的步进和重复功能。附加的Probe Hover Control™具有悬停高度（50、100或150 µm），可轻松方便地将探头与焊盘对齐。
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TS200-SE除空气轴承XY工作台外还包括– 5 mm Z吸盘调整（μm分辨率），可实现精确，精确的接触/超程控制或探针卡跌落校正。1毫米刻度指示器为操作员提供了简便的反馈。另外20毫米气动举升机提供了简便的大陆式装卸程序。
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TS200-SE可提供各种 卡盘选件， 以满足不同的预算和应用要求：环境卡盘：同轴，三轴或射频，带有两个由陶瓷材料制成的辅助卡盘，用于精确的射频校准-60°C至300°C的各种ERS AirCool卡盘。
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晶圆装载门可以在15°C以下的任何温度下简单锁定–此*功能使TS200-SE成为市场上安全的手动探针台。此外，可以通过使用*集成的触摸屏显示器来操作热卡盘，该触摸屏显示器放置在操作员面前的便利位置，以实现快速，操作和即时的反馈。
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这些卡盘采用ERSAC3冷却技术及其空气管理系统，可直接从“已用”空气中清除MPI ShielDEnvironment™，与市场上的其他系统相比，可减少多达30％至50％的干燥空气消耗。
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MPI光学器件可以选择单管MPI SuperZoom™SZ10，具有高达12倍光学变焦和超过42毫米工作距离的MegaZoom™MZ12或EeyZoom™EZ10 –具有人体工程学的20倍目镜，90毫米目镜的10倍光学变焦光学元件。工作距离和低至2 µm的光学分辨能力。
