起订量：
HANWA HED-C5000R CDM测试设备
该企业相似产品
南京芯测软件技术有限公司，专业打造半导体晶圆级测试及芯片检测等系统集成平台。公司致力为客户提供半导体测试设备国产化改造，以及系统集成的一站式平台服务。公司的目标是成为国内晶圆级在片测试，器件测量系统软件、硬件的先进供应商，以满足国内用户需求，开发半导体测试设备和系统集成软件定制化服务。
南京芯测的在专注于在片测试系统设备经销与晶圆在片测试软件的研发。涉及的设备包括：手动探针台、半自动探针台、全自动探针台、硅光探针台、射频探针台、高低温探针台、除此之外涉及经销芯片ESD测试系统、封装及工艺检测设备等。我们服务的领域涵盖半导体晶圆级在片测试、射频微波器件测量，大功率器件测试、微组装封装工艺检测、失效分析、材料测试等应用行业
详细信息
HANWA HED-C5000R CDM测试设备
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是不可少的。HANWA HED-C5000R CDM测试设备
HED-C5000R
Hanwa CDM测试机
l 符合JEDEC、ESDA、JEITA ，AEC，EIAJ），
l 可快速转换不同标准的测试
l 台式尺寸，紧凑，准确可靠的CDM测试仪。
l 配备的CCD摄像机
l 提供FI-CDM和D-CDM模式。
l 可以测量每个引脚的电容。
尺寸：W575 x D400 x H300 Weight 35Kg Compact Desktop Size
CDM 测试机
此设备是用来测试接触不同电位物质时的破坏性设备
| 产品名/型号 | 设备说明 | 设备介绍视频 |
|---|---|---|
 HED-C5000R | 此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备 | click |
符合所有主要国际标准：
| 标准 | 标准版号 | 模式 | 校准工具 | |
|
1 | ESDA/JEDEC Joint Standard | AEC101/102 ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014 |
FI-CDM |
Small/Large coin(disk) |
|
2 |
JEDEC |
JESD22-C101F |
FI-CDM |
Small/Large coin(disk) |
|
3 |
ESDA |
ANSI/ESD S5.3.1-2009 |
FI-CDM or D-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2) |
|
4 |
AEC |
AEC - Q100-011 Rev-C1 |
FI-CDM or D-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2) |
|
5 |
JEITA |
JEITA ED-4701/302 (Method 305C) |
D-CDM | Small/Large coin(disk) + FR-4 board |
