HED-G5000 全自动芯片ESD测试设备
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南京芯测软件技术有限公司，专业打造半导体晶圆级测试及芯片检测等系统集成平台。公司致力为客户提供半导体测试设备国产化改造，以及系统集成的一站式平台服务。公司的目标是成为国内晶圆级在片测试，器件测量系统软件、硬件的先进供应商，以满足国内用户需求，开发半导体测试设备和系统集成软件定制化服务。
南京芯测的在专注于在片测试系统设备经销与晶圆在片测试软件的研发。涉及的设备包括：手动探针台、半自动探针台、全自动探针台、硅光探针台、射频探针台、高低温探针台、除此之外涉及经销芯片ESD测试系统、封装及工艺检测设备等。我们服务的领域涵盖半导体晶圆级在片测试、射频微波器件测量，大功率器件测试、微组装封装工艺检测、失效分析、材料测试等应用行业
详细信息
日本Hanwa-HED-G5000全自动HBM/MM/Latch-up测试机、HANWA ESD测试机
全自动芯片ESD测试设备产品概要：
HANWA新一代G5000系列ESD 全自动静电破坏检测机已上市，搭载多Pin脚无继电器的GND模组（最高支持MAX2048pin），全不受寄生电容的影响，实现高精度检测。此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备 （满足JEITA / ESDA / JEDEC规格）可用于闩锁测试，并适用脉冲电 流法·电源过电压·ESD脉冲印加法。汽车电子AEC-Q100标准，车规级集成电路可靠性静电HDM/CDM测试。
技术优势：
1、适应以下国际标准波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
2、该系统特别的短路放电电路可通过其原始机械设计实现。
3、短路最大限度地减少电感和电容对数据的影响。
4、使用单个电路可确保每个器件引脚的数据稳定性。
全自动芯片ESD测试设备主要应用：
芯片静电破坏自动测定装置。
