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OIA 残余应力测量
- 型号
- OIA
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测角仪，应力双折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD检测设备，波片相位延迟，剪切
北京昊然伟业光电科技有限公司成立于 2010 年，专业代理欧美（德国、瑞士、美国、波兰等）高精度的光学检测设备，致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的服务。主要包括：
光学检测产品：应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等测量系统/剪切干涉仪/非接触式测厚仪/测角仪/可调相位延迟波片等；
激光检测产品：激光功率计、能量计及光束质量分析仪等；
集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等
显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。
值得一提的是，近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪，CRD光腔衰荡法高反测量仪，偏心曲率测量仪等产品，为今后的发展壮大奠定了坚实的基础。
详细信息
利用光弹调制器技术，Hinds 公司的应力双折射测量系统(残余应力测量)可以在深紫外（193nm）波段进行应力双折射探测。针对特定材料制作（氟化钙）和特定形状（非球面透镜）的技术解决方案。
应力双折射测量系统，非球面透镜应力双折射测量，应力椭偏仪，应力椭偏测量,残余应力测量
Hinds 公司的不规则非球面光学元件应力分布测量系统（应力双折射测量系统）通过对光的调制解调可以测出待测光学元件中的双折射大小和方向，这些数据同时也表示了应力的大小和方向。Hinds 公司这套不规则非球面光学元件应力分布测量系统的倾斜，多角度入射扫描技术可以保证对非球面不规则的光学元件（光刻机透镜等）有着的扫描测量解决方案。
