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CRD高反射率测量仪
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测角仪，应力双折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD检测设备，波片相位延迟，剪切
北京昊然伟业光电科技有限公司成立于 2010 年，专业代理欧美（德国、瑞士、美国、波兰等）高精度的光学检测设备，致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的服务。主要包括：
光学检测产品：应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等测量系统/剪切干涉仪/非接触式测厚仪/测角仪/可调相位延迟波片等；
激光检测产品：激光功率计、能量计及光束质量分析仪等；
集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等
显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。
值得一提的是，近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪，CRD光腔衰荡法高反测量仪，偏心曲率测量仪等产品，为今后的发展壮大奠定了坚实的基础。
详细信息
针对高反射率（R>99.7%）的光学样品，德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法（Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS）CRD高反射率测量它通过对指数型腔内衰荡信号的检测，去掉了传统检测方法中激光能量起伏所引起的误差, 大大提高了测量精度。
CRD高反射率测量仪测量原理：
当一束脉冲激光沿着光轴入射到光腔内，忽略衍射及散射损耗，单色脉冲光在两个腔镜之间往返振荡，每经过一次循环透射出部分光，探测器通过接收光脉冲信号得到其以单指数形式衰减。
1. CRD系统介绍
德国IPHT CRD高反射率测量仪系统包含：
1. 激光光源
2. 光学零部件
3. A/D转换器
4. 探测系统
系统要求 | 详细说明 |
激光器波长范围 | 400nm-1064nm内常见激光波长 |
激光器工作模式 | 脉冲 |
测量角度范围 | 标准0°；45°选配 |
反射率测量范围 | 99.9%-99.995% |
测量精度 | 反射率精度取决于待测样品反射率，精度为（1-R）*10% |
样品类型 | 平平/平凹镜(凹面的曲率半径≥500mm),平面抛光，凹面镀高反，反射率R在99.9%...99.995%范围内 |
样品尺寸要求 | 标准即1英寸；半英寸/50mm可选（直径要求可根据客户需求定制） 标准厚度：1/4英寸（5-7mm可选） |
应用：
准确检测高反射率激光腔镜的反射率，尤其对于反射率大于99.9%的腔镜测量具有更好的效果。
