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BW-4022A 高精度半导体分立器件测试系统
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生产厂家陕西博微电通科技有限责任公司是一家致力于高精度半导体测试设备、电力电子设备、电池安全管理系统及电力储能解决方案的集研发、生产、销售的高科技企业。
公司位于古城西安西咸新区沣东新城能源金贸区,地理位置环境*,依托西安众多高校及研究所,公司拥有一批高素质人才队伍,从软件开发、硬件设计、系统集成、产品升级迭代及售后服务均由专业技术人员完成,多年来公司与深圳、西安、杭州等多家高科技企业合作开发出针对半导体测试、电力电子、能源管理系统系列产品,经过技术迭代,产品功能全面,产品质量可靠,市场口碑优秀。
公司注重产品质量,更注重客户服务满意度及产品体验,每一款产品出厂前都经过严格的检验或第三方机构监测,并持续优化产品功能、根据客户需求定制或迭代升级产品。我们秉承“博厚共赢、服务入微”理念竭诚为每一位客户提供可靠的、高品质的产品与服务,帮助解决客户实际使用痛点,开发难点,节约生产成本提高工作效率,助力行业发展。
半导体测试系统:(Semiconductor test system)
针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半导体测试产品,广泛应用于半导体企业测试计量、封装测试、IDM测试、晶圆测试、DBC测试以及科研教学、智能电力、轨道交通、新能源汽车、白色家电等元器件应用端产业链的来料检验、器件选型及科研及院所、实验室的数据验证分析和研发指导等。
半导体测试设备可针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可进行高精度静态参数测试(包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数)测试精度可达16位ADC;动态双脉冲(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA测试等;环境老化测试(包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/间歇寿命IOL/功率循环PCT3000 )及热特性测试(包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)半导体器件测试设备/雪崩耐量测试UIS、二极管浪涌测试IFSM、热阻测试、晶闸管直流参数测试SCR、安全工作区正偏/反偏/短路安全工作区测试SOA,各类型探针台、高精度高低温箱及分立器件分选机系统等。
电池安全管理及储能:(Battery safety management and energy storage system)
电池安全管理系统主要是针对电池、蓄电池组、储能系统安全及应用电池全生命周期系统解决方案,主要产品覆盖储能电池BMS、后备电池BMS、动力电池BMS和电池监控数据平台等,产品广泛应用于储能,云计算,数据中心,通信网络,轨道交通,以及商业和工业设施关键电源领域,将成为国家绿色能源转型重要系统保障。
BWDT-4022A 晶体管直流参数测试机是新一代针对半导体器件测试系统,经过我公司多次升级与产品迭代,目前测试性能、精度、测试范围及产品稳定度得到大幅提升,成为半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、研发分析、产品选型等重要检测设备之一。
BWDT-4022A 晶体管直流参数测试机大规模 32 位 ARM&MCU 设计, PC 中文操作界面,高压源 2500V:选配 1.4KV-- 2KV,高流源 500A :选配 40A、100A、200A、300A 及以上。程控软件基于 Lab VIEW 平台, 填充调用式菜单操作界面,测试界面简洁灵活、人机界面友好。配合开尔文综合集成测试插座,只需要根据不同器件更换测试座配合系统自适应测试设置可完成大多数电子元件的静态参数参数, 系统内部配置因线路、接触性、及 EMC 引起的干扰进行自动补偿,确保测试结果准确度;针对 Si/SiC/GaN 材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR 等高精度静态参数包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数进行精确测试。
该测试系统主要由测试主机和程控电脑及外部测试夹具(其他联机设备)三部分组成。
可对常见的 SOD/SOT/DO/TO/LL/DFN 等封装进行直接配置测试,对特殊封装夹具进行定制,通过 Prober 接口、Handler 接口可选(16Bin)连接分选机和机械手建立工作站,实现快速批量化测试,测试数据可在线存贮、导出,
▶ 客户端PC、工控机均可程控测试机进行测试
▶ 菜单调用式测试程序亦可编辑软件操作简便、人机界面友好
▶ 针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数测试
▶ 系统基于 Lab VIEW 平台开发
▶ 自动识别器件极性、 NPN/PNP
▶16 位 ADC,1M/S 采样速率;
▶高压源 2500V:选配1.4KV-- 2KV
▶高流源500A :选配 40A、100A、200A、300A及以上
▶ 驱动电压 10mV~40V ▶控制极电流 10uA~100mA
▶四线开尔文连接确保连接可靠性 ▶ RS232 串口通信
▶Prober 接口、Handler 接口可选(16Bin)
▶提供丰富的测试适配器 ▶切换板采用高速水银继电器,测试效率与可靠性大大提高,
▶可与分选机、探针台、编带机等联机测试
(1)测试类型
▶二极管类:Diode/ZD(Zener Diode) /SBD(SchottkyBarrierDiode)/TVS/整流桥堆
▶三极管类:三极管/单双向可控硅/MOS/JFET/IGBT/三端功率驱动器/七端半桥驱动/高 边功率开关
▶保护类:压敏电阻/单组电压保护器/双组电压保护器
▶稳压集成类:三端稳压器/基准 IC(TL431) /四端稳压/稳压集成类
▶继电器类&光耦类&传感监测类
▶高压源 2400V:(选配 1.4KV-- 2KV)
▶高流源 500A :(选配 40A.100A,200A.300A 及以上)
▶栅极电压 40V/100mA 分辨率至 1.5uV / 1.5pA 精度可至 0.1%
▶支持“脉冲式自动加热”
▶支持“分选机”、”编带机“、“探针台”等半导体设备通信联机
(2)测试项目:
▶漏电参数:IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、 IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
▶击穿参数:BVCEO BVCES (300μS Pulse above 10mA) BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM、 VBB、BVR 、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO
▶导通参数:VCESAT、VBESAT、VBEON、VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、 VGSON、VF(Opto-Diode) VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、 VO(Regulator)Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)
▶关断参数:VGSOFF ▶触发参数:IGT、VGT ▶保持参数:IH、IH+、IH-
▶锁定参数:IL、IL+、IL- ▶增益参数:hFE、CTR、gFS
▶间接参数:IL ▶混合参数:rDSON、gFS、Input Regulation、 Output Regulation
主机尺寸:深 660*宽 430*高 210(mm)
主机重量:<28kg 电气环境
主机功耗:<300W
海拔高度:海拔不超过 4000m
环境要求:-20℃ ~ 60℃(储存)、5℃ ~ 50℃(工作)
相对湿度: 20%RH~75%RH (无凝露 ,湿球温度计温度 45℃以下)
大气压力:86Kpa ~106Kpa
防护条件:无较大灰尘 ,腐蚀或爆炸性气体 ,导电粉尘等
电网要求:AC220V、 ±10%、50Hz±1Hz
工作时间:连续
1、设备配置选项
详见产品说明书。
2、设备配置选项
详见产品说明书。
3、测试种类及参数
(1) 二极管类:二极管 Diode Kelvin ,Vrrm ,Irrm ,Vf ,△Vf ,△Vrrm ,Cka ,Tr(选配);
(2) 二极管类:稳压二极管 ZD(Zener Diode) Kelvin ,Vz ,lr ,Vf ,△Vf ,△Vz ,Roz ,lzm ,Cka;
(3) 二极管类:稳压二极管 ZD(Zener Diode) Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka;
(4) 二极管类:三端肖特基二极管 SBD(SchottkyBarrierDiode) Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka 、Tr(选配);
(5) 二极管类: 瞬态二极管 TVS Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ;
(6) 二极管类:整流桥堆 Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka;
(7) 二极管类:三相整流桥堆 Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka;
(8) 三极管类:三极管 Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、 Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr (选配)、 Ts (选配)、Value_process;
(9) 三极管类:双向可控硅 Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、 Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm;
(10)三极管类:单向可控硅 Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、 Vtm;
(11)三极管类: MOSFET Kelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、 Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ;
(12)三极管类:双 MOSFET Kelvin、Pin_chk、Ic fx chk、Type_ident、Vgs1(th)、VGs2(th)、VBR)Dss1、VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、 Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、 Coss、Crss
(13)三极管类:JFET Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、 Ciss、Crss、Coss;
(14)三极管类: IGBT Kelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss;
(15)三极管类:三端开关功率驱动器 Kelvin 、Vbb(AZ) 、 Von(CL) 、 Rson 、Ibb(off) 、Il(lim) 、Coss 、Fun_pin_volt;
(16)三极管类:七端半桥驱动器 Kelvin 、lvs(off) 、lvs(on) 、Rson_h 、Rson_l 、lin 、Iinh 、ls_Volt 、Sr_volt;
(17)三极管类:高边功率开关 Kelvin 、Vbb(AZ) 、Von(CL) 、Rson 、Ibb(off) 、ll(Iim) 、Coss 、Fun_pin_volt;
(18)保护类:压敏电阻 Kelvin 、Vrrm 、 Vdrm 、Irrm 、Idrm 、Cka 、 △Vr
(19)保护类:单组电压保护器 Kelvin 、Vrrm 、Vdrm 、Irrm 、Idrm 、Cka 、△Vr;
(20)保护类:双组电压保护器 Kelvin 、Vrrm 、Vdrm 、Irrm 、Idrm 、Cka 、△Vr;
(21)稳压集成类 :三端稳压器 Kelvin 、Type_ident 、Treg ix chk 、Vout 、Reg_Line 、Reg_Load 、IB 、IB_I 、Roz 、 △IB 、VD、 ISC 、Max_lo 、Ro 、Ext _Sw 、Ic_fx_chk;
(22)稳压集成类 :基准 IC(TL431) Kelvin 、Vref 、△Vref 、lref 、Imin 、loff 、Zka 、Vka;
(23)稳压集成类 :四端稳压 Kelvin 、Type_ident 、Treg ix chk 、Vout 、Reg_Line 、Reg_Load 、IB 、IB_I 、Roz 、△lB 、VD 、 Isc、 Max_lo 、Ro 、Ext_Sw 、Ic_fx_chk;
(24)稳压集成类 :开关稳压集成器选配;
(25)继电器类:4 脚单刀单组、 5 脚单刀双组、 8 脚双组双刀、 8 脚双组四刀、 固态继电器 Kelvin 、Pin_chk 、Dip6_type_ident 、Vf 、Ir 、Vl 、Il 、Ift 、Ron 、Ton(选配)、Toff(选配);
(26)光耦类:4 脚光耦、 6 脚光耦、8 脚光耦、 16 脚光耦 Kelvin 、Pin_chk 、Vf 、Ir 、Bvceo 、Bveco 、Iceo 、Ctr 、Vce(sat) 、Tr 、Tf;
(27)传感监测类: 电流传感器(ACS712XX 系列、CSNR_15XX 系列)(选配); 霍尔器件(MT44XX 系列、A12XX 系列)(选配); 电压监控器(选配); 电压复位 IC(选配);
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