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BW-3010A 半导体分立器件光耦测试系统
- 型号
- BW-3010A
陕西博微电通科技有限责任公司是一家致力于高精度半导体测试设备、电力电子设备、电池安全管理系统及电力储能解决方案的集研发、生产、销售的高科技企业。
公司位于古城西安西咸新区沣东新城能源金贸区，地理位置环境*，依托西安众多高校及研究所，公司拥有一批高素质人才队伍，从软件开发、硬件设计、系统集成、产品升级迭代及售后服务均由专业技术人员完成，多年来公司与深圳、西安、杭州等多家高科技企业合作开发出针对半导体测试、电力电子、能源管理系统系列产品，经过技术迭代，产品功能全面，产品质量可靠，市场口碑优秀。
公司注重产品质量，更注重客户服务满意度及产品体验，每一款产品出厂前都经过严格的检验或第三方机构监测，并持续优化产品功能、根据客户需求定制或迭代升级产品。我们秉承“博厚共赢、服务入微”理念竭诚为每一位客户提供可靠的、高品质的产品与服务，帮助解决客户实际使用痛点，开发难点，节约生产成本提高工作效率，助力行业发展。
半导体测试系统：（Semiconductor test system）
针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半导体测试产品，广泛应用于半导体企业测试计量、封装测试、IDM测试、晶圆测试、DBC测试以及科研教学、智能电力、轨道交通、新能源汽车、白色家电等元器件应用端产业链的来料检验、器件选型及科研及院所、实验室的数据验证分析和研发指导等。
半导体测试设备可针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可进行高精度静态参数测试（包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数）测试精度可达16位ADC；动态双脉冲（包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg）及Rg/UIS/SC/C/RBSOA测试等；环境老化测试（包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/间歇寿命IOL/功率循环PCT3000 ）及热特性测试（包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）半导体器件测试设备/雪崩耐量测试UIS、二极管浪涌测试IFSM、热阻测试、晶闸管直流参数测试SCR、安全工作区正偏/反偏/短路安全工作区测试SOA，各类型探针台、高精度高低温箱及分立器件分选机系统等。
电池安全管理及储能：（Battery safety management and energy storage system）
电池安全管理系统主要是针对电池、蓄电池组、储能系统安全及应用电池全生命周期系统解决方案，主要产品覆盖储能电池BMS、后备电池BMS、动力电池BMS和电池监控数据平台等，产品广泛应用于储能，云计算，数据中心，通信网络，轨道交通，以及商业和工业设施关键电源领域，将成为国家绿色能源转型重要系统保障。
详细信息
BW-3010A
光藕参数测试仪
品牌： 博微电通
名称：晶体管光耦参数测试仪
型号： BW-3010A
用途： BW-3010A型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。
BW-3010A产品介绍：
BW-3010A型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试，BW-3010A为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降（VF）和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中，测试条件可以任意设置，测试正向压降和输出电流可达1A，操作简便，实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。
产品电气参数：
产品信息
产品型号：BW-3022A
产品名称：晶体管光耦参数测试仪；
物理规格
主机尺寸：深 305*宽 280*高 120(mm)
主机重量：＜4.5Kg
主机颜色：白色系
电气环境
主机功耗：＜75W
环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；
相对湿度：≯85%；
大气压力：86Kpa～106Kpa；
防护条件：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等；
电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作时间：连续；
服务领域：
应用场景：
▶选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）
▶检验筛选（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
产品特点：
▶大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单
▶大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.
▶全部可编程的DUT恒流源和电压源.
▶内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.
▶高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1500V；
▶重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题；
▶软件自校准功能；
▶自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试；
▶DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型，显示测试结果是否合格,并有声光提示；
▶两种工作模式：手动、自动测试模式。
BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系
型号类型 | P1 | T1 | P2 | T2 | P3 | T3 | P4 | T4 |
光藕PC817 | A | A测试端 | K | K测试端 | E | E测试端 | C | C测试端 |
BW-3010A测试技术指标：
1、 耐压(VCEO)测试指标
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-1400V | 1V | <2%+2RD | 0-2mA |
2、输入正向压降(VF)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2V | 2mV | <1%+2RD | 0-1000MA |
3、反向漏电流(ICEO)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2000uA | 1UA | <5% +5RD | BVCE=25V |
4、电流传输比(CTR)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-9999 | 1% | 1% +5RD | BVCE：0-20V IF:0-100MA |
5、输出导通压降(VCE(sat))
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2.000V | 2mV | 1% +5RD | IC：0-1.000A IF:0-1.000A |
6、极性识别方式：自动极性转向测试 （自动识别方向）
7、 可分档位总数：10档
BW-3010A测试定义与规范：
AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极.
VF:IF: 表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流.
Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.
Vce:Ir: 表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.
CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。
CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。
Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。
Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。
