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ET200A型 微型轮廓仪(光学检测)

型号
ET200A型
深圳市矢量科学仪器有限公司

中级会员3年 

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深圳市矢量科学仪器有限公司是集半导体仪器装备代理及技术服务的高新技术企业。

致力于提供半导体前道制程工艺装备、后道封装装备、半导体分析测试设备、半导体光电测试仪表及相关仪器装备维护、保养、售后技术支持及实验室整体服务。

公司目前已授实用新型权利 29 项,软件著作权 14 项,是创新型中小企业、科技型中小企业、规模以上工业企业。








详细信息

1. 样品台规格

样品台尺寸:Φ160mm

大工件尺寸:Φ200mm

大工件厚度:52mm

大工件重量:2kg

纵向调整范围:2.5" (±5mm/160mm)

样品台材质:黑色硬质铅

手动旋转:360°(手动粗调)、±5°(微调,小约0.5°)

2. 传感器参数

原理:光栅式传感器

Z方向测定范围:Max. 600μm

Z方向小分辨率(随放大倍率变化):

x5,000倍时:10nm ±300μm

x10,000倍时:5nm ±160μm

x20,000倍时:2.5nm ±80μm

x50,000倍时:1nm ±32μm

x100,000倍时:0.5nm ±16μm

x200,000倍时:0.25nm ±8μm

x500,000倍时:0.1nm ±3.2μm

x1,000,000倍时:0.05nm ±1.6μm

x2,000,000倍时:0.025nm ±0.8μm

测定力:10μN~500μN

触针半径:2μm 60° 钻石针头(另有多种可选)

驱动方式:直流伺服

重复性:te = 0.2nm (1μm以下台阶时)

3. X轴(基准轴/测量轴)参数

移动量(大行程):100mm (±50mm)

直线度:0.2μm/100mm (全量程),5nm/5mm (局部)

移动速度:0.005~20mm/s

线性度(linear scale):X方向分辨率 0.1μm

位置重复误差:±5nm

以下是详细列出的机械臂参数和功能:

4. Z轴参数

移动量:54mm

移动速度:大2.0mm/S

检出器自动停止机能

5. Y轴参数(手动定位用)

移动量:25mm(±12.5mm)

6. 工作观察参数

彩色1/3"CCD,配备x4物镜倍率

综合倍率:约320倍(使用19"显示器时)

视野范围:1.2mm x 0.9mm

观察方向:右侧斜视

照明系统:白色LED,支持软件调整明暗度

7. 软件功能简介

型号:i-STAR31

可设定测量条件菜单、重复测量设定及解析菜单

支持设定下针坐标,实现定位后自动测量及解析功能

配备低通滤波功能,有效过滤噪音及杂讯

具有返回测量起始点功能

显示倍率范围:垂直方向502,000,000倍,纵方向110,000倍

强大的解析功能,包括主要图形、段差解析、粗糙度解析、内应力分析及多种段差解析选项

8. 其他参数

床台材质:一体花岗岩

防振台(选购):提供落地型或桌上型选项

电源规格:AC220V±10%,50/60HZ,300VA本体外观尺寸及重量:W500×D440×H610mm,重120kg,采用一体花岗岩低重心结构设计(不含防振台)


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