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XHEMIS EX-2000 玉崎科学半导体设备理学Rigaku射线胶片厚度
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经销商玉崎科学仪器(深圳)有限公司是京都玉崎株式会社全资设立的中国子公司,专业从事国内贸易/国际贸易业务,主要经营光学设备、电子计测仪器、科学仪器、机械设备、环境试验设备、PC周边用品、作业工具用品、电源、化学用品、FA自动化多类上万种产品的销售。公司凭借优秀的渠道管理能力,可控的交期和匹配的物流体系,科学严谨的产品质量,专业的线下服务能力,为客户提供极有竞争力的价格以及各方位的技术支持
玉崎科学半导体设备理学Rigaku射线胶片厚度
玉崎科学半导体设备理学Rigaku射线胶片厚度
通过采用新开发的配备高速探测器的光学系统,我们实现了高通量XRR测量(15-25WPH)。此外,通过应用特殊的信号处理,可以获得低噪声和高动态范围的清晰频谱。
通过利用射线反射调整角度,我们实现了快速、准确的样品倾斜校正。
对面内膜厚分布进行射线分析时,晶圆高度的调整非常重要。配备高速Z轴对准功能,支持多种薄膜类型,可实现整个晶圆的高精度映射测量。
FEOL:CoSix、NiSix、SiGe、High-κ 薄膜、Al...
BEOL:势垒金属、Ta/TaN、Ti/TiN、Cu 籽晶、Cu 电镀、W...
各种工艺中使用的各种薄膜类型,对应于薄膜厚度。
为了在XRR和XRF测量中获得准确稳定的分析值,需要定期检查和管理光学系统、X射线源和探测器。该设备配备了“AutoCal”功能,可以全自动执行这些日常管理任务。减轻了操作人员的工作量。
它具有基于其他型号中也使用的经过验证的软件的多种功能,并配备了不需要复杂分析的新型 XRR 薄膜厚度和密度分析软件,使得可以通过简单的操作执行从测量到分析的所有操作.
支持200mm至100mm晶圆的自动开盒传送。 (可选)
- 兼容在线通信功能,
可与上位机进行SECS通信。兼容各种CIM/FA。 (选项)