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泽攸STM-TEM光电一体测量系统
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北京仪光科技，专注显微形貌分析！
北京仪光科技有限公司是一家专门从事三维共聚焦白光干涉轮廓仪、台式扫描电镜/台阶仪/电镜原位分析、各进口及国产品牌的金相显微镜、体式显微镜、偏光显微镜、超景深显微镜、大型扫描电子显微镜、超薄切片机、清洁度分析仪、金相及岩相制样设备、显微相机、冷热台、阴极发光台、光学平台等各类型科研分析仪器。提供制样、显微观察、三维形貌分析和特殊应用检测等全套分析检测解决方案。
我司代理西班牙Sensofar三维共聚焦白光干涉仪、德国徕卡等进口及国产各类型光学显微镜、安徽泽攸台式扫描电镜&台阶仪&电镜原位分析、美国RMC超薄切片机/半薄切片机、德国蔡司大型扫描电镜、丹麦司特尔金相制样、英国Linkam冷热台、阴极发光台、防震平台等材料制备及微观分析仪器。我们的客户涵盖高校、科研院所、农林、医疗、石油石化、地质、文博、船舶、汽车、工业材料、电子半导体、电力、能源、检测分析等各个行业。我们致力于以开放的视野、专业的技术、优质的服务为科研和工业等用户提供专业、全面的显微形貌分析应用解决方案。
愿景：让科学研究和技术创新更便捷、更高效！
使命：为材料用户提供准确、可靠、全面的毫米级到纳米级样品制备及微观形貌分析解决方案!
详细信息
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统
泽攸STM-TEM光电一体测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量
泽攸STM-TEM光电一体测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成光学模块，从而实现在透射电镜中进行原位光电测量或者光谱学表征研究。
性能指标
透射电镜指标：
● 兼容指*电镜型号及极靴；
● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；
● 保证透射电镜原有分辨率。
电学测量指标：
● 包含一个电流电压测试单元；
● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；
● 电流分辨率：优于100 fA；
● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；
● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。
扫描探针操纵指标：
● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；
● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；
● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。
光纤指标：
● 光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；
● 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜；
● 可选SMA接头、FC接头。
产品特色
（1）采用双向光纤，可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究；
（2）光电一体化解决方案，具有高拓展性；
（3）高稳定性，保证电镜原有分辨率；
（4）很长的寿命
