Hitachi/日立 品牌
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上海市所在地
X-MET提供轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析,检测限度低,且可每天提供准确可靠结果。
通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析,从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确,则使用实证校准。
大触摸屏和基于图标的用户界面,使用户只需要极少的培训便可开始操作。
X-MET轻便(仅1.5公斤)、简洁、平衡性好,可供长时间使用,而疲劳度低。
符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。
通过MIL-STD-810G 耐用标准测试。
其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。
*灵活:可将多达100,000条结果保存在X-MET上,将报告输出到U盘或个人计算机,或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。
X-MET8000 | X-MET8000 | X-MET8000 | |
废金属回收 | ✔ | ✔ | ✔ |
材料可靠性鉴定(PMI)检查 | ✔ | ✔ | |
制造与 PMI QA/QC | ✔ | ✔ | ✔ |
贵金属 | ✔ | ✔ | ✔ |
监管机构合规筛查 (消费品、包装、原材料…) | ✔ | ✔ | |
环境土壤筛查 | ✔ X-MET8000 Optimum Geo | ✔ X-MET8000 Expert Geo | |
矿石和矿物 | ✔ X-MET8000 Optimum Geo | ✔ X-MET8000 Expert Geo | |
金属镀层厚度测量 | ✔ | ✔ | ✔ X-MET8000 Expert / Expert CG |
科技考古 | ✔ | ✔ X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo |
手持式XRF光谱仪应用于QA/QC
应用于材料可靠性鉴定
应用于废旧金属回收
应用于采矿
应用于土壤重金属检测
应用于合规性检测
应用于镀层测厚
应用于考古
应用于贵金属和珠宝检测
X-MET8000 Smart
X射线管:40kV
滤光片:单一
检测器:大面积 SDD
高样本温度:400ºC
符合 IP54 等级
Thick Kapton®窗口:保护以预防探测器的窗户损坏
校准:基本参数法(FP)
内置摄像头 (可选)
X-MET8000 Optimum
X射线管:40kV or 50kV
滤光片:6位滤光转换器
检测器:大面积 SDD
高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC(可选)
符合 IP54 等级
可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护
校准:基本参数法 (包括轻元素分析)
内置摄像头(可选)
小光班准直器(可选)
针对所有元素(从镁到铀)进行优先分析的六位滤光片
X-MET8000 Expert
X射线管:50kV
滤光片:6位滤光转换器
检测器:大面积 SDD
高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC(可选)
符合 IP54 等级
可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护
校准方法:自动跳转的经验系数法(可进行追溯)
内置摄像头
小光班准直器 (可选)
针对所有元素,从镁到铀,的优先分析的六位滤光片