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为什么选择EA8000A X射线分析仪?
创新性地协同使用X射线透射成像与先进的X射线荧光光谱,使得EA8000A的扫描速度比其他方法快100倍。例如,仅需30分钟便可在200 x 250mm区域内对尺寸为20µm的金属颗粒进行检测和成分分析。
EA8000A可通过X射线投射图像检测金属异物,随后使用XRF技术自动扫描这些区域。
日立采用的成像技术可确保在整个样品体积内检测出金属异物。先进的XRF毛细管光学机构提供高度聚焦和强X射线光束,可分析电极板及有机薄膜表面下的金属异物。
EA8000A具有多功能性、高速度和自动化特性,可支持大批量生产。其能快速完成扫描,因此非常适合原材料分析、过程控制和故障分析,确保锂离子电池生产的各方面都符合高质量标准。