X光测厚仪

X光测厚仪

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产品简介

XRF2000镀层测厚仪检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...可测单层,双层,多层,合金镀层,测量范围:0-35um测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度全自动台面,操作非常方便简单

详细介绍

XRF2000镀层测厚仪

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,操作非常方便简单
东莞镀层测厚仪,深圳镀层测厚仪,惠州镀层测厚仪,中山镀层测厚仪,江门镀层测厚仪检测系统检测器正比计数器检测滤片Co或Ni(选项)X-Y-Z三轴样片台操作模式高速精密马达,可控制加减速 位置控制鼠标定位样品台窗口控制防呆摄录机监控2D、3D、随机定位程控定位箱门开关感应Y轴传输摄像系统摄像器彩色数字CCD摄像头显示模式显示器覆盖模式刻度线软件产生光束显示软件显示真实大小照明灯光暗控制自动修正功能光束及十字线自动修正统计功能处理项目zui大/zui小值,位移,平均值,标准差, Bar图表R图表及方型图等报表五种模式可选处理能力zui多90项标志功能可插入公司标志预览打印前预览,可节省纸张定性分析显示模式原素频谱显示方法ROI距离定性分析原素显示卷标图案显示指针显示显示原素及测量数值ROI显示显示ROI彩色图放大功能局部放大平均功能柔和显示频谱窗口大小无级别式窗口...

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