XRF-2000测厚仪的特征

• 可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
• 可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。
• 薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外，也适用于无铅焊锡的应用。
• 备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

XRF-2000测厚仪测量原理

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

• 仪器系统结构

• 测量部分的结构

用于照射（激发）的X射线是采用由上往下照射方式，用准直器来确定X射线的光束大小。

样品的观察是利用与照射用的X射线同轴的CCD摄像机所摄制的图像来确定想要测量的样品位置。标准配备了多种尺寸的准直器可根据需要调整照射X射线的光束大小来决定测量面积，zui小可测量面积是40umф。

• X射线操作部分（X-ray station）

Excel和Word是标准配置，利用这些软件，我们可以简单快速地进行测量数据的统计处理及测量结果报告书的编辑和打印。