荧光X-射线微小面积镀层厚度测量仪的特征◆可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度◆可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。◆薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外，也适用于无铅焊锡的应用。◆备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

设备保养

9.1日常保养：

9.1.1 操作人员每天对X-ray金属厚度测试仪清洁维护，每天测试前必须用系统校正片对仪器进行波谱校准，  校正成功后方可测板，并保留记录（《X-ray测厚仪波谱校准记录》频率：每天一次）。

9.1.2 实验室工作人员每月必须用校正片对已建档案进行校正，在用标准片校准档案时，注意不能触摸标准片测量点，防止其污染及破损，造成测量误差。校正合格后保留校准记录（《X-ray测厚仪校准记录》频率：每月一次）。

9.2   标准件校准期限：一年（注：如果在使用时，发现误差较大，使用标准片仍不能校准的情况下，可提前送外校正）。