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供应韩国XRF-2000测厚仪荧光X-射线微小面积镀层厚度测量仪的特征
供应韩国XRF-2000测厚仪荧光X-射线仪器的测量原理
物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
标准规格
主机箱 | |
输入电压 | AC220±10% 50/60HZ |
沟通方法 | RS-232C |
温度控制 | 前置放大及机箱温度控制 |
对焦 | 激光自动对焦 |
样品对位 | 激光对位 |
安全装置 | 若测量中箱门打开，X射线会在0.5秒内关闭 |
表面泄漏 | 少于1 SV |
多通道分析 | |
通道数量 | 1024ch |
温度控制 | 自动前置放大温度控制 |
脉冲处理 | 微电脑高速处理器 |
X射线源 | |
X射线管 | 油冷，超微细对焦（选项） |
高压 | 0 - 50KV（程控） |
管电流 | 0 - 1mA(程控) |
目标靶 | W靶（可选Mo或Be） |
准直器 | |
种类 | 固定型或自动型（选项） |
固定种类大小 | 可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.3mm 其他大小（选项） |
自动种类大小 | 0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.3mm |
计算机系统 | |
计算机 | IBM相容 |
显示器 | 彩色显示器 |
打印机 | 喷墨彩色打印机 |
校正 | |
应用 | 单镀层，双镀层，合金镀层，电镀液 |
修正功能 | 密度修正，标准样品再校正 |
2D、3D随机位置测量 | |
2D | 均距表面测量 |
3D | 表面排列处理测量 |
随机位置 | 任意设定测量点 |
