电镀镀层X光谱分析仪器

镀层检测：

2.1、常见金属镀层有：

 2.2、单层厚度范围：

金镀层0－8um,

铬镀层0-15um,

其余一般为0-30um以内，

可小测量达0.001um。

2.3、多层厚度范围

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

2.4、镀层层数为1-6层

2.5、镀层精度相对差值一般<5%。

2.6、镀层成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。

单层分析精度，以Ni举例：（相对差值）

报告打印：

可以PDF，Excel格式输出报告，历史数据查询方便

安全使用,维护与保养

6.1、由于仪器非常精密，未经允许情况请不要打开仪器外壳，不要对X射线源和探测器进行改变，由于用户自身原因造成仪器损坏本公司将不负责任。

6.2、仪器安装一定要平稳，仪器后面离墙距离不得小于30厘米，必须使用标准的220V交流电，电压不稳情况要配备稳压电源，插座必须接地良好，由用户电源不合乎要求造成损失由用户负责。

6.3、请不要用湿的手触摸电源部分，带水的手也不要碰仪器外壳以免发生触电。

6.4、进行测量时，因为高电压流至X射线源，仪器运行时，不要尝试打开或触摸盖子。由于高电压源必须通过自动运行或者遵循用户指南中止。

6.5、仪器环境要求：仪器使用环境需清洁，温度适宜15℃－30℃，湿度小于80%,电源：AC: 220V ±5V。

以上细节均有可能造成无法预测后果，买方应予以基本遵守。

验收和保证值

   仪器的性能指标所引用的术语及定义都是根据行业标准， 所有误差大都被表示成测量厚度的百分比或者绝对差值. 除特别说明外,所有数据指标都在西格玛的可信状态下。

   性能测试所用的标样片都是国际标准的标准样品,在相同的测试点进行测试.这些样本必须受到保护,以免机械或化学的改变,这些将影响到X射线的测量。

性能测试要求环境温度范围在 15℃-30℃之间。

环境相对湿度 ≤80％

电    源：AC: 220V ±5V

性能主要测试精度和重复性；不能使测厚仪在测量过程中产生“晃动”

4.1测量精度

1）精度(单层)：

测厚仪的检测精度表

   测试方法: 在相同的操作条件下，对同一标准样板进行5次检测，检测到的平均数据与标样板的实际数据作比较。检测精度为检测平均值与标准样片实际值之差（平均误差）

2）两层及以上：

 两层及以上的首层精度符合单层的测试结果，但是第二层以上比较复杂，要根据上面一层的厚度来决定。在第一层厚度小于2um时，一层和二层的测试精度基本符合单层的精度，参照如下的测试报告，第一层金标样厚度0.101um，第二层镍的标样厚度为4.52um。

  在第一层厚度在2～5um时会大大降低第二层的和第三层的测试精度，第二层的误差率会在5～10%，第三层的误差率小于15%。

4.2重复性

卖方保证重复性值:≤±5%

   重复性的检测应在仪器校准后: 在相同的操作条件下,使用相同的检测样板做连续重复检测，连续测量必须在同一检测点位置使用一同样片间隔60秒,测量一共进行10次,每次测量值与10次平均值进行对比。

重复性=平均误差÷平均值×100 %

 制造及检验标准

6.1 按买卖双方协商技术文件。

6.2 卖方制造合同产品时所采用的标准、规范、使用的材料应符合国家或国际通行的最新颁发的现行有关标准规范。

6.3 卖方提供的相关《说明书》以及手册规定的条款。

6.4 设备必须保证全新的出厂标准。

技术服务

   卖方向买方派遣指导安装、服务人员。合同签定后，卖方应负责本项目的项目经理，负责协调卖方技术人员按双方约定的时间去现场指导安装、调试、技术交底、人员培训等。

  质保条款

    8.1卖方所供设备自验收合格之日起，质保期为一年。质保期内产品发生的质量问题，卖方必须免费提供维修和咨询服务，如电话无法解决的问题，卖方必须在接到买方的现场维修通知后48小时内赶到产品安装地点。

    8.2 因卖方供应的设备不符合技术协议中所规定的条款及产品质量原因对买方造成的损失的卖方应承担相关责任。

本仪器产品特点：

采用了Si-Pin探测器，性能稳定，重复性和重现性好。

在客户远端请求下，我司技术人员可以远程协助用户解决常见操作问题（需连接因特网）。

可进行多达5层的多镀层检测。

无需象采用了正比计数器（PC比例器）的仪器那样，需要标准样频繁较准。

全自动操作平台，可以连续多点检测，省时省力。

操作简单，界面友好，数据直观显示。

双重联动屏蔽装置，做到了X射线零辐射，让使用者更安全。

电镀镀层X光谱分析仪器