X-RAY镀层测厚仪 射线分析仪

FISCHERSCOPE XDL210X-RAY镀层测厚仪 射线分析仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-07-07 21:42:35
8139
产品属性
关闭
苏州圣光仪器有限公司

苏州圣光仪器有限公司

中级会员16
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

X-RAY镀层测厚仪或称射线分析仪,德国*,全称为FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210,可以测量电镀层例如:铜、镍、铬、锌、锡、钛、金、银或者合金比如锌镍合金等等的镀层厚度以及成份,还可以进行电解液(电镀溶液)的测成份分析

详细介绍

X-RAY镀层测厚仪又名射线分析仪 菲希尔x-ray射线镀层测厚仪镀层分析仪 x射线多镀层测厚仪

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
技术参数表如下:
菲希尔x-ray射线镀层测厚仪
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
X 射线荧光光谱仪,采用手动或自动方式,
测量和分析印刷线路板、防护及装饰性镀层
及大规模生产的零部件上的镀层。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL
2 FISCHERSCOPE X-RAY XDL
菲希尔x-ray射线镀层测厚仪简介
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从
大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类
似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零
部件及印刷线路板。
比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本
参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析
和测量。zui多可同时测量从氯(17)到铀(92)中的24 种元素。
XDL X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。
XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。
菲希尔x-ray射线镀层测厚仪典型的应用领域有:
测量大规模生产的电镀部件
测量薄镀层,例如装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量,如测量印刷线路板
分析电镀溶液
菲希尔x-ray射线镀层测厚仪设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样
品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际
应用的需求。
XDL210:平面样品平台,固定的Z 轴系统
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以定位测量位置。通过视频
窗口,还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了
激光点,可以辅助定位并快速对准测量位置。
测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计,可以测量比测量箱更长和更宽的样品。
例如大型的线路板。
所有的操作,测量数据的计算,以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友
好的WinFTM®软件在电脑上完成的。
XDL 型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器,型式许可符合德国“Deutsche
Röntgenverordnung-RöV”法规规定。
XDL
3
菲希尔x-ray射线镀层测厚仪通用规范
用途
能量色散X 射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用来测量薄镀层和微小结构,分析合金和微量
组分。
元素范围zui多同时测量从氯(Cl 17)到铀(U 92)之间的24 种元素
设计理念台式仪器,测量门向上开启
测量方向从上到下
X 射线源
X 射线源带铍窗口的钨管
高压三种高压: 30 kV40 kV50 kV,可调整
孔径(准直器) Ø 0.3 mm (可选:圆形Ø 0.1 mm Ø 0.2 mm;长方形0.3 mm x 0.05 mm)
测量点
取决于测量距离及使用的准直器大小;实际的测量点大小与视频窗口中显示的*。
zui小的测量点大小约Ø 0.16mm.
测量距离,如测量腔体内部
0 ~ 80 mm,未校准范围,使用保护的DCM 功能
0 ~ 20 mm,已校准范围,使用保护的DCM 功能
X 射线探测
X 射线接收器比例接收器
样品定位
视频显微镜
高分辨 CCD 彩色摄像头,用于查看测量位置
手动调焦或自动聚焦
十字线刻度和测量点大小经过校准
测量区域照明亮度可调
激光点用于定位样品
放大倍数 20x ~ 180x (光学变焦: 20x ~ 45x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
样品台 XDL 210
设计固定式样品平台
zui大移动范围 -
X/Y 平台移动速度 -
X/Y 平台移动重复精度 -
Z 轴移动范围 -
可用样品放置区域 463 x 500 mm
样品zui大重量 20 kg
样品zui大高度 155/90/25 mm
激光定位点 -
FISCHERSCOPE X-RAY XDL
镀层厚度材料分析显微硬度材料测试
电气参数
电压,频率 AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz
功率zui大 120 W (不包括计算机
保护等级 IP40
仪器规格
菲希尔x-ray射线镀层测厚仪外部尺寸x x [mm]570 x 760 x 650
重量 XDL21090 kgXDL22095 kgXDL230105 kgXDL240120 kg
内部测量室尺寸x x [mm]: 460 x 495 (参考“样品zui大高度”部分的说明
环境要求
操作温度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F
储藏或运输温度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F
空气湿度 ≤ 95 %,无结露
计算系统
计算机带扩展卡的计算机系统
软件
标准: WinFTM® V.6 LIGHT
可选: WinFTM® V.6 BASICPDMSUPER
执行标准
CE 合格标准 EN 61010
X 射线标准 DIN ISO 3497 ASTM B 568
型式许可
安全而保护全面的测量仪器,型式许可符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV
法规规定。
如有特殊要求,可于Fischer 磋商,定制特殊的XDL 型号。更多选项和,请致电苏州圣光仪器有限公司。
 
上一篇:电解测厚仪的原理简述 下一篇:镀层系列:JPSPEC镀层测厚仪在五金卫浴领域的优势
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :